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Système d'inspection optique SVS 10μ
par vision vidéoà caméraautomatisé

Système d'inspection optique - SVS 10μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / automatisé
Système d'inspection optique - SVS 10μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / automatisé
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Caractéristiques

Technologie
à caméra, optique, par vision vidéo
Mode de fonctionnement
automatisé
Type
pour détection de défauts, visuel, vidéo, de surface réfléchissante
Applications
pour l'industrie de l'électronique
Autres caractéristiques
haute résolution, contrôlé par ordinateur, sans contact

Description

Description
Station de vérification AVI pour bandes de substrats IC scannées par systèmes AVI. SVS 10μ, station de vérification CIMS propulsée par Sprint™, est conçue pour la vérification de géométries lignes/doigts jusqu'à 10 µm (optimisée pour 10–18 µm).
Le système combine un canal d'éclairage réfléchi/coaxial avec trois canaux diffusifs afin d'optimiser le contraste sur surfaces dorées et masque de soudure. La conception optique permet le marquage précis des défauts et l'élimination des unités défectueuses. Une mécanique robuste et un matériel performant assurent un haut débit et une grande stabilité opérationnelle.
SVS 10μ propose une interface ergonomique et conviviale nécessitant un entraînement minimal. Elle s'intègre à CDB™ et CDBIC™ pour la gestion des données de défauts et d'unités mises au rebut, et est compatible avec tous les systèmes AVI CIMS ainsi qu'avec les machines de marquage laser tierces.

Points forts
  • Configurations d'éclairage vidéo flexibles pour un contraste optimisé
  • Calibration matérielle automatisée
  • Table à vide stationnaire pour une manutention stable
  • Conception ergonomique pour l'efficacité opérateur
  • Mouvement optimisé défaut-à-défaut pour réduire les cycles
  • Image claire des défauts et éclairage vidéo réglable

Options
  • Lecteur de codes-barres
  • Position de moniteur réglable
  • CDB™/CDBIC™ – classification des défauts et cartographie virtuelle des défauts

Caractéristiques techniques
  • Largeur minimale détectable lignes/doigts : 10 µm (optimisé pour 10–18 µm)
  • Application : vérification de bandes de substrats IC scannées avec systèmes AVI
  • Éclairage : canal réfléchissant/coaxial et trois canaux diffusifs
  • Optique : permet le marquage des défauts et l'élimination des unités défectueuses
  • Mécanique & matériel : construction robuste pour un haut débit et efficience
  • Interface & ergonomie : interface conviviale, formation minimale requise
  • Compatibilité : pleinement compatible avec CDB™ et CDBIC™
  • Interopérabilité : compatible avec tous les systèmes AVI CIMS et les machines de marquage laser tierces

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.