Système d'inspection optique SVS 8μ
par vision vidéoà caméraautomatisé

Système d'inspection optique - SVS 8μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / automatisé
Système d'inspection optique - SVS 8μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / automatisé
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Caractéristiques

Technologie
à caméra, optique, par vision vidéo
Mode de fonctionnement
automatisé
Type
visuel, vidéo, de surface réfléchissante
Applications
pour l'industrie de l'électronique, pour PCB
Autres caractéristiques
haute résolution, contrôlé par ordinateur, sans contact

Description

Description
La SVS 8μ CIMS est une station de vérification AVI pour substrats IC, conçue pour contrôler des bandes scannées par systèmes AVI avec une résolution minimale lignes/doigts jusqu'à 8 µm. Propulsée par Sprint™, la station est optimisée pour les technologies de largeur lignes/doigts 8–12 µm et prend en charge la gestion précise des défauts tout en assurant un débit élevé.

Optique et éclairage
Le système combine un canal lumineux réfléchi/coaxial et trois canaux diffus séparés pour maximiser le contraste sur surfaces dorées et sur le solder mask. L'optique offre une image nette des défauts et facilite le marquage ou la mise au rebut des unités défectueuses. La conception mécanique robuste et le matériel industriel garantissent une performance stable.

Ergonomie et compatibilité
La SVS 8μ dispose d'une interface utilisateur ergonomique nécessitant une formation minimale. Elle est pleinement compatible avec CDB™ et CDBIC™ pour la gestion des défauts et des unités mises au rebut, et interopère avec tous les systèmes AVI CIMS ainsi qu'avec les machines de marquage laser tierces.

Points forts
  • Configurations d'éclairage vidéo flexibles
  • Calibrage automatisé des matériaux
  • Table à vide stationnaire
  • Conception ergonomique pour le confort opérateur
  • Mouvement optimisé défaut-à-défaut pour le débit
  • Image nette des défauts avec éclairage vidéo réglable

Options
  • Lecteur de code-barres
  • Position de moniteur réglable
  • CDB™/CDBIC™ — classification des défauts et cartographie virtuelle des défauts

Caractéristiques techniques
  • Modèle : SVS 8μ
  • Brand : CIMS
  • Application : station de vérification AVI pour substrats IC
  • Résolution minimale lignes/doigts : jusqu'à 8 µm
  • Optimisé pour largeur lignes/doigts : 8–12 µm
  • Éclairage : canal réfléchi/coaxial et trois canaux diffus
  • Optique : conçue pour un fort contraste sur surfaces dorées et solder mask
  • Gestion des défauts : marquage ou mise au rebut des unités défectueuses
  • Mécanique & matériel : mécanique robuste et matériel industriel pour un débit élevé
  • Interface utilisateur : ergonomique, formation minimale requise
  • Compatibilité : compatible avec les systèmes AVI CIMS et les machines de marquage laser tierces
  • Gestion des données : compatible avec CDB™ et CDBIC™
  • Options : lecteur de code-barres; position de moniteur réglable; classification des défauts et cartographie virtuelle
  • Fonctions spéciales : calibrage automatisé des matériaux; table à vide stationnaire; mouvement optimisé défaut-à-défaut; éclairage vidéo réglable
  • Logiciel : propulsé par Sprint™

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.