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Système d'inspection optique Galaxy Flex 25μ
automatisérobotiséde défauts de surface

Système d'inspection optique - Galaxy Flex 25μ - CIMS - automatisé / robotisé / de défauts de surface
Système d'inspection optique - Galaxy Flex 25μ - CIMS - automatisé / robotisé / de défauts de surface
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Caractéristiques

Technologie
optique
Mode de fonctionnement
automatisé, robotisé
Type
de contrôle qualité, pour détection de défauts, de défauts de surface, de mesure
Applications
pour la production, pour l'industrie de l'électronique, pour PCB
Configuration
en ligne
Autres caractéristiques
haute résolution, contrôlé par ordinateur

Description

Description
AOI pour l'inspection de circuits flex et rigid-flex avec une capacité ligne/espacement minimale jusqu'à 25 µm. Galaxy Flex 25μ est un système AOI CIMS conçu pour supporter la production en grande série de circuits flex et rigid-flex. Le système permet l'analyse de technologies à 25 µm ligne/espacement et intègre le module optique Microlight™ Gen II pour une illumination optimisée lors d'exigences de détection strictes. Associé à des algorithmes de détection configurables, il offre une acquisition d'image haute résolution et une identification précise des défauts. Galaxy Flex 25μ fonctionne avec le moteur de détection cross-plateforme Spark™ 3.0 pour assurer des workflows de détection cohérents.

Points forts
  • Moteurs linéaires pour un mouvement fluide et silencieux
  • Plateforme mécanique compacte
  • Firmware de traitement d'image haute performance
  • Bloc d'illumination amélioré (Microlight™ Gen II)
  • Configuration rapide et intuitive des nouveaux jobs
  • Compatible avec automatisation frontale AMHS ou manipulation robotisée

Options
  • +2DM™ métrologie – mesure des dimensions de panneau
  • +2CD™ métrologie – mesure 2D des éléments de circuit
  • LDI™ – option d'inspection des perçages laser
  • CDB™/CDBIC™ – classification des défauts et cartographie virtuelle des défauts
  • VVS™ – système de vérification virtuelle

Caractéristiques / spécifications techniques
  • Type de produit : AOI (Inspection optique automatisée) pour circuits flex et rigid-flex
  • Capacité minimale ligne/espacement : 25 µm
  • Technologie optique : Microlight™ Gen II (illumination améliorée pour détection exigeante)
  • Moteur de détection : Spark™ 3.0 (moteur de détection cross-plateforme)
  • Production cible : Conçu pour la production en grand volume
  • Acquisition d'image & logiciel : Acquisition d'image haute résolution avec capacités logicielles avancées
  • Performance de détection : Sensibilité de détection élevée avec faible taux de faux positifs
  • Système de mouvement : Moteurs linéaires pour mouvement fluide et silencieux
  • Conception mécanique : Plateforme mécanique compacte
  • Compatibilité automatisation : Compatible avec automatisation frontale AMHS ou intégration robotisée
  • Options disponibles : +2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

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PCB Inspection and Metrology

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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