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Système d'inspection optique Galaxy 7Cχ
par vision vidéoà caméraautomatisé

Système d'inspection optique - Galaxy 7Cχ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / automatisé
Système d'inspection optique - Galaxy 7Cχ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / automatisé
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Caractéristiques

Technologie
à caméra, optique, par vision vidéo
Mode de fonctionnement
automatisé
Type
de contrôle qualité, pour détection de défauts, de mesure, vidéo
Applications
pour la production, pour l'industrie de l'électronique, pour PCB
Configuration
en ligne
Autres caractéristiques
haute résolution, contrôlé par ordinateur, sans contact

Description

Présentation
Galaxy 7Cχ est un système d'inspection optique automatisée (AOI) pour substrats IC, conçu pour la production en grande série avec une détection minimale ligne/espacement jusqu'à 7 µm. Le système utilise une caméra couleur et une optique avancée pour l'acquisition d'images haute résolution à vitesse de balayage industrielle.

Points clés
  • Technologie optique Prisma™ Gen II offrant une couverture d'éclairage flexible et un contraste élevé
  • Moteur de détection Spark™ 3.0 multiplateforme pour des algorithmes de détection personnalisables
  • Acquisition d'image couleur optimisée pour la capture haute résolution à vitesse
  • Moteurs linéaires garantissant un mouvement fluide et silencieux
  • Plateforme mécanique compacte adaptée à l'intégration en usine
  • Matériel de 6e génération avec bloc d'éclairage amélioré
  • Configuration rapide et intuitive pour réduire les temps de changement de série

Options
  • Fi™ – option d'inspection finale pour cartes finies
  • +2DM™ métrologie – mesure des dimensions du panneau
  • +2CD™ métrologie – mesure 2D des éléments de circuit
  • +3DH™ métrologie – mesure 3D de la hauteur des éléments de circuit
  • +3DP™ métrologie – profilage 3D des éléments de circuit
  • LDI™ – option d'inspection des perçages laser
  • CDB™/CDBIC™ – classification des défauts et cartographie virtuelle des défauts
  • VVS™ – système de vérification virtuelle
  • X-WAVE™ – illumination multi-longueurs d'onde

Caractéristiques techniques
  • Détection minimale ligne/espacement : jusqu'à 7 µm
  • Technologie optique : Prisma™ Gen II pour une illumination flexible et un contraste maximal
  • Acquisition d'images : caméra couleur avec capture haute résolution à vitesse de balayage élevée
  • Moteur de détection : Spark™ 3.0 multiplateforme
  • Mouvement mécanique : moteurs linéaires pour un déplacement fluide et silencieux
  • Plateforme : plateforme mécanique compacte pour intégration en usine
  • Génération matérielle : matériel de 6e génération
  • Illumination : bloc d'illumination amélioré (option multi-wave X-WAVE™ disponible)
  • Logiciel : algorithmes de détection personnalisables pour optimiser la détection et minimiser les faux positifs
  • Compatibilité automatisation : compatible avec AMHS frontal ou robot
  • Options de métrologie et inspection disponibles : Fi™, +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

Autres produits CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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