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Système d'inspection optique Galaxy PVH
automatiséde niveau de remplissagepour détection de défauts

Système d'inspection optique - Galaxy PVH - CIMS - automatisé / de niveau de remplissage / pour détection de défauts
Système d'inspection optique - Galaxy PVH - CIMS - automatisé / de niveau de remplissage / pour détection de défauts
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Caractéristiques

Technologie
optique
Mode de fonctionnement
automatisé
Type
pour détection de défauts, de niveau de remplissage
Applications
pour l'industrie de l'électronique, pour PCB
Autres caractéristiques
contrôlé par ordinateur, sans contact

Description

Description
Galaxy PVH est un système AOI pour l'inspection des vias obturés (PVH) avec un diamètre inspectable minimum de 75 µm. Il permet d'inspecter sur un même panneau les trous traversants remplis de résine et les vias forés au laser, pour la production en grande série de MLB et de PCB HDI. L'option PVH étend les capacités AOI aux perçages mécaniques et laser et détecte de manière fiable les défauts à l'intérieur des perçages.

Points forts
  • Excellente détection des défauts dans la résine à l'intérieur des perçages
  • Moteurs linéaires pour un mouvement fluide et silencieux
  • Bâti sur la plateforme compacte Galaxy
  • Firmware de traitement d'image haute performance
  • Processeurs puissants pour gérer de gros volumes de données
  • Mise en place rapide et intuitive des nouveaux jobs
  • Sorties statistiques complètes pour le contrôle de processus


Options
  • Package statistique pour calculer le déplacement des perçages et les violations de diamètre
  • CDB™/CDBIC™ – classification des défauts et cartographie des défauts virtuels
  • VVS™ – système de vérification virtuelle


Caractéristiques techniques
  • Type de produit : système AOI pour vias obturés (PVH)
  • Diamètre inspectable minimum : 75 µm
  • Inspecte à la fois les trous traversants remplis de résine et les vias laser remplis sur le même panneau
  • Marchés/applications cibles : fabrication en grande série de MLB et de PCB HDI
  • Technologie optique : Microlight™ pour une couverture lumineuse optimisée
  • Détection : algorithmes de détection personnalisables pour une détection rigoureuse des défauts
  • Mécanique : moteurs linéaires pour un mouvement fluide et silencieux
  • Plateforme : basé sur la plateforme compacte Galaxy
  • Traitement : firmware de traitement d'image haute performance et processeurs puissants pour gérer de grands volumes de données
  • Mise en service : configuration de jobs rapide et intuitive
  • Données & contrôle : packages statistiques puissants fournissant un contrôle de processus en temps réel et l'étalonnage des outils de perçage laser
  • Options disponibles : package statistique pour décalage de perçage/violations de diamètre, classification CDB™/CDBIC™ et cartographie de défauts virtuels, vérification virtuelle VVS™

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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