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Système d'inspection optique Galaxy Fi 15Cμ
à camérade mesurepour détection de défauts

Système d'inspection optique - Galaxy Fi 15Cμ - CIMS - à caméra / de mesure / pour détection de défauts
Système d'inspection optique - Galaxy Fi 15Cμ - CIMS - à caméra / de mesure / pour détection de défauts
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Caractéristiques

Technologie
à caméra, optique
Type
de contrôle qualité, pour détection de défauts, de mesure, de couleur
Applications
pour l'industrie de l'électronique
Autres caractéristiques
haute résolution

Description

Description
Le Galaxy Fi 15Cμ est un système d'inspection finale basé sur panneau, conçu pour l'inspection finale des substrats IC standard, des PCB HDI et MLB. Il est équipé d'une caméra couleur haute résolution et d'une optique optimisée pour résoudre jusqu'à 15 µm lignes/espaces, garantissant un contraste élevé sur le vernis de masque, le cuivre plaqué, l'or/OTC et le stratifié nu.

Points forts
  • Moteurs linéaires pour un mouvement fluide et silencieux
  • Structure mécanique robuste avec table à vide automatisée
  • Acquisition et traitement d'image haute performance
  • Architecture informatique nouvelle génération pour le traitement de gros volumes de données
  • Configuration rapide et intuitive des programmes pour réduire les temps de changement
  • Compatible avec l'automatisation AMHS avant/arrière ou intégration robotisée

Options
  • +2DM™ métrologie – mesure des dimensions de panneau
  • +2CD™ métrologie – mesure 2D des éléments de circuit
  • +3DH™ métrologie – mesures 3D de la hauteur des éléments de circuit
  • +3DP™ métrologie – profilage 3D des éléments de circuit
  • CDB™/CDBIC™ – classification des défauts et cartographie virtuelle des défauts
  • X-WAVE™ – illumination multi-longueurs d'onde

Caractéristiques techniques
  • Application : Inspection finale de panneaux pour substrats IC standard, PCB HDI et MLB
  • Résolution minimale détectable lignes/espaces : 15 µm
  • Imagerie : Caméra couleur avec acquisition d'images haute résolution
  • Performance optique : Optimisée pour un contraste maximal sur vernis de masque, cuivre plaqué, or/OTC et stratifié nu
  • Moteur de détection : Spark™ 3.0 cross-platform detection engine
  • Système de mouvement : Moteurs linéaires pour un mouvement fluide et silencieux
  • Mécanique : Structure mécanique robuste avec table à vide automatisée
  • Traitement : Firmware de traitement d'image haute performance et ordinateur nouvelle génération pour les gros volumes de données
  • Ergonomie : Configuration rapide et intuitive pour les nouveaux jobs
  • Automatisation : Compatible avec l'automatisation AMHS avant/arrière ou robot
  • Fonctionnalités optionnelles de métrologie et d'inspection : 2DM™, 2CD™, 3DH™, 3DP™, CDB™/CDBIC™, X-WAVE™

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.