Système d'inspection optique AIVR 10μ
par vision vidéoà caméraIA

Système d'inspection optique - AIVR 10μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / IA
Système d'inspection optique - AIVR 10μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / IA
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Caractéristiques

Technologie
à caméra, optique, IA, par vision vidéo
Type
de contrôle qualité, pour détection de défauts, visuel, vidéo, de couleur
Applications
pour l'industrie de l'électronique, pour PCB
Autres caractéristiques
haute résolution

Description

Description Station de vérification AOI assistée par IA pour substrats HDI et IC, avec pas ligne/espace minimal jusqu'à 10 μm. AIVR combine la vérification virtuelle (images AOI post-traitées) et la vérification physique (vidéo en direct) au sein d'une même station de travail. AIVR 10μ est conçue pour supporter la production en grande série de substrats HDI et IC et est optimisée pour la vérification des technologies à pas ligne/espace de 10–25 μm. En mode AIVR, l'opérateur examine les images de défaut capturées par l'AOI et traitées par des algorithmes d'amélioration d'image basés sur l'IA, ce qui permet de filtrer rapidement les faux positifs évidents. Le système améliore l'efficacité et la rapidité de la vérification tout en intégrant les résultats de manière transparente à la base de données. Les utilisateurs peuvent classer les défauts via un écran tactile optionnel pour fournir un retour en temps réel au QA. AIVR 10μ est compatible avec tous les AOI CIMS.

Points forts
  • Combine la vérification des images AOI post-traitées et le mode vidéo en direct
  • Jusqu'à +90 % d'efficacité de vérification par rapport au mode traditionnel
  • Affiche des images de défaut couleur haute résolution améliorées par IA, capturées directement depuis l'AOI
  • Zoom variable et calibration automatisée
  • Table à vide fixe
  • Conception ergonomique
  • Image de défaut nette et éclairage vidéo réglable

Options
  • Marqueur automatique pour marquer les défauts
  • Lecteur de codes-barres
  • Bras support moniteur réglable
  • CDB™ / CDBIC™ – classification des défauts et cartographie virtuelle des défauts
  • SharpLight™ – amélioration de l'image vidéo

Caractéristiques / spécifications techniques
  • Famille de produits : AIVR
  • Application : vérification AOI pour substrats HDI et IC
  • Pas ligne/espace minimum pris en charge : jusqu'à 10 μm (optimisé pour la technologie 10–25 μm)
  • Mode : combine la vérification virtuelle (images AOI post-traitées) et physique (vidéo en direct)
  • Traitement d'images : algorithmes d'amélioration d'image basés sur l'IA pour filtrer les faux positifs et afficher des images de défaut couleur haute résolution améliorées par l'IA
  • Intégration : intégration transparente avec la base de données et le retour QA
  • Interface opérateur : écran tactile optionnel pour la classification des défauts
  • Caractéristiques mécaniques : table à vide fixe, conception ergonomique, éclairage vidéo réglable
  • Calibration : zoom variable et calibration automatisée
  • Compatibilité : compatible avec tous les systèmes AOI CIMS

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.