Système d'inspection numérique AIVR 4μ
par vision vidéoà caméraIA

Système d'inspection numérique - AIVR 4μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / IA
Système d'inspection numérique - AIVR 4μ - CIMS - par vision vidéo / à caméra / IA
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Caractéristiques

Technologie
à caméra, numérique, IA, par vision vidéo
Mode de fonctionnement
manuel
Type
pour détection de défauts, vidéo
Applications
pour la production, pour l'industrie de l'électronique, pour PCB
Configuration
en ligne
Autres caractéristiques
haute résolution, contrôlé par ordinateur, sans contact

Description

Description
AIVR est une station de vérification CIMS alimentée par IA qui combine vérification virtuelle et physique dans une seule station. L'AIVR 4μ est conçue pour la production en grande série de substrats IC et optimisée pour la vérification des technologies 4–15 µm ligne/espacement. En mode AIVR, l'opérateur examine les images de défauts capturées par l'AOI et traitées par des algorithmes d'amélioration d'image basés sur l'IA, ce qui permet d'éliminer rapidement les faux positifs évidents. L'utilisation d'AIVR améliore sensiblement l'efficacité et la rapidité de la vérification tout en intégrant les résultats à la base de données. Un écran tactile en option permet de classer les défauts et de fournir un retour QA en temps réel. L'AIVR 4μ est compatible avec tous les AOI CIMS.

Points forts
  • Combine la vérification des images post-traitées AOI avec un mode vidéo en direct
  • Jusqu'à +90 % d'efficacité de vérification vs. le mode traditionnel
  • Affichage d'images de défauts couleur haute résolution améliorées par IA directement issues de l'AOI
  • Zoom variable et calibration automatisée
  • Table à vide fixe
  • Conception ergonomique
  • Image nette des défauts et éclairage vidéo réglable

Options
  • Auto-marqueur pour marquage des défauts
  • Lecteur de codes-barres
  • Bras de moniteur réglable
  • CDB™/CDBIC™ – classification des défauts et cartographie virtuelle des défauts
  • SharpLight™ – amélioration de l'image vidéo

Caractéristiques techniques
  • Famille / série produit : AIVR
  • Fabricant / Marque : CIMS
  • Application cible : station de vérification AOI pour substrats IC
  • Vérification ligne/espacement prise en charge : optimisée pour 4–15 µm
  • Modes de vérification : virtuel (images AOI post-traitées) et vidéo en direct
  • Amélioration d'image : algorithmes basés sur l'IA, images de défauts couleur haute résolution améliorées par IA
  • Amélioration d'efficacité : jusqu'à +90 % d'efficacité vs. le mode traditionnel
  • Interaction utilisateur : workflow de révision par opérateur, écran tactile optionnel pour classification des défauts et retour QA
  • Intégration : résultats intégrés à la base de données
  • Optique / mécanique : zoom variable, calibration automatisée, éclairage vidéo réglable
  • Caractéristiques de la station : table à vide fixe, conception ergonomique
  • Modules optionnels disponibles : auto-marqueur, lecteur de codes-barres, bras de moniteur réglable, CDB™/CDBIC™, SharpLight™
  • Compatibilité : compatible avec tous les AOI CIMS

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.