Microscopes Nikon Metrology

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microscope polarisant
microscope polarisant
ECLIPSE LV100N POL

Poids: 17 kg
Longueur: 490 mm
Largeur: 251 mm

Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
MM series

Grossissement: 1 unit - 100 unit
Poids: 20, 5, 15 kg
Longueur: 100, 150, 200, 250, 300 mm

Le microscope de mesure manuelle MM-200 est le plus compact et précis de Nikon. Il est conçu pour réaliser des mesures fiables par rapport à un plan sur les caractéristiques de composants. Ce système de mesure manuel, ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
ECLIPSE L300N series

Grossissement: 50 unit
Poids: 45 kg

La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
Eclipse L200N series

Poids: 45 kg

La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
Eclipse LV150NA

Poids: 8,7 kg

... Grâce à sa conception modulaire, le microscope universel permet d’utiliser des techniques de contraste optique complémentaires sur un seul support de microscope. Nikon ECLIPSE LV150NA et LV150N Ces ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
Eclipse LV150N

Poids: 8,6 kg

... Grâce à sa conception modulaire, le microscope universel permet d’utiliser des techniques de contraste optique complémentaires sur un seul support de microscope. Nikon ECLIPSE LV150NA et LV150N Ces ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
Eclipse LV100NDA

Poids: 8,6 kg

... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
Eclipse LV100ND

Poids: 9,5 kg
Longueur: 362 mm
Largeur: 251 mm

... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope métallurgique
microscope métallurgique
ECLIPSE MA200

Grossissement: 1 unit - 100 unit
Longueur: 295 mm
Largeur: 215 mm

... La conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope métallographique
microscope métallographique
Eclipse MA100N

Poids: 10 kg
Longueur: 552 mm
Largeur: 229 mm

... ’imagerie numérique avec logiciel d’analyse de Nikon. La conception du microscope permet des techniques complémentaires de contraste optique. Nikon ECLIPSE MA100N Le microscope inversé MA100N à éclairage ...

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