Microscopes EBSD

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microscope FIB/SEM
microscope FIB/SEM
Helios 5

Résolution spatiale: 515, 1 030 nm

... MEB et même pour des techniques sensibles à la surface telles que la cartographie par diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD). Nous offrons une large gamme de produits et des capacités d'automatisation avancées ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
Scios 2

Résolution spatiale: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Poids: 5 kg

... Microscope électronique à balayage à faisceau ionique focalisé pour la préparation d'échantillons de haute qualité à ultra-haute résolution et la caractérisation 3D. Le Thermo Scientific Scios 2 DualBeam est un système ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Verios 5 XHR

Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm

... électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique à balayage Verios 5 XHR Le MEB Verios 5 XHR offre une résolution ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Quattro ESEM

Résolution spatiale: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Microscope électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'étude des matériaux à l'état naturel. Microscope électronique à balayage environnemental Quattro Le microscope électronique ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Apreo 2

Résolution spatiale: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Poids: 5 kg
Largeur: 340 mm

... Le temps passé au microscope est précieux, et il faut éviter de consacrer trop de temps à la maintenance, aux alignements, à la formation ou à l'optimisation de l'image. Microscope électronique à balayage ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM3200

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 3, 4, 8 nm
Poids: 480 kg

... profondeur de champ est importante et l'image est riche en stéréoscopie. Évolutivité et fonctionnalités étendues SEM SE\BSE\EDS\EDX\EBSD, etc Navigation optique Localisation rapide des échantillons ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM5000

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 1, 1,5, 0,8 nm
Poids: 950 kg

... Le CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception avancée de la colonne, technologie de tunnel à haute tension ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM4000Pro

Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ thermique analytique équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky longue durée à haute luminosité. La conception de lentille ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM5000X

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,6 nm
Poids: 400 kg

... Le SEM5000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) à ultra-haute résolution résolution de 0,6 nm@15 kV et de 1,0 nm@1 kV. Bénéficiant d'un processus d'ingénierie de colonne amélioré, de ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
DB500

Résolution spatiale: 3, 1,2 nm

CIQTEK DB500 est un microscope électronique à balayage à émission de champ avec une colonne à faisceau d'ions focalisé pour l'analyse nanométrique et la préparation d'échantillons, qui est appliqué avec la technologie ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope SEM
microscope SEM
JIB-4700F

Grossissement: 20 unit - 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 1,2, 4, 1,6 nm

... d'électrons (EBSD). En outre, une fonction d'analyse tridimensionnelle qui capture automatiquement des images SEM à certains intervalles du traitement des coupes transversales fait partie des caractéristiques ...

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