Microscopes pour la topographie

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microscope à rayons X
microscope à rayons X
Phenom Pure G6

Grossissement: 160 unit - 175 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 15 nm
Poids: 50 kg

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

microscope à rayons X
microscope à rayons X
Phenom ParticleX TC

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm
Poids: 75 kg

... dans les environnements de fabrication exigeants comme l'automobile. Comparé aux microscopes optiques traditionnels, notre Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM vous permet non seulement d'effectuer des analyses ...

microscope opto-numérique
microscope opto-numérique
DVM6

Microscope numérique pour l’analyse de défaillance, l’assurance et le contrôle qualité, la recherche et le développement ou encore la médecine légale. L'optique exceptionnelle, la manipulation intuitive et le logiciel intelligent permettent ...

microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal de transmission ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3800/3900 Family

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... pour le vide poussé et le vide poussé, sélection de différents modes de signal tels que le contraste des matériaux, la topographie de surface, la 3D -- Détecteur multifonction "UVD" en option : Electrons secondaires dans un vide ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM II

Grossissement: 6 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 15 nm

... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent pas non plus ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-IT810

... image 3D en temps réel pour vérifier la topologie de l’échantillon. L’intégration de l’EDS dans le logiciel de contrôle du microscope permet une utilisation simplifiée. Diverses méthodes d’analyse telles que les pointés, la zone, la ...

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Jeol
microscope optique
microscope optique
Eclipse LV100ND

Poids: 9,5 kg
Longueur: 657 mm
Largeur: 251 mm

... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE LV100NDA et LV100ND Ces ...

microscope optique
microscope optique
UP-5000

Résolution spatiale: 0,01 nm

... résolution nanométrique. Contrairement à tout autre microscope optique L'UP-5000 est une combinaison 6 en 1 de nombreuses techniques optiques sur une seule plateforme. Par conséquent, notre microscope optique permet ...

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RTEC Instruments
microscope à force atomique
microscope à force atomique
LensAFM

... Le Nanosurf LensAFM est un microscope à force atomique qui intervient là où les microscopes optiques et les profilomètres atteignent leurs limites de résolution. Il est monté comme un objectif normal, étendant ainsi la ...

microscope SEM
microscope SEM

... fournit une documentation de la surface d'un composant pour révéler les irrégularités. Microscope électronique à balayage (MEB) - Microphone - Outillage CNC Un microscope électronique à balayage (MEB) est utilisé pour ...

microscope optique
microscope optique
CM EXPLORER

... production. Tâches de mesure caractéristiques • Mesure de rugosité selon • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • Mesures de topographie (dont volume, usure, tribologie) • Contour et forme (2D, 3D) • Analyse de pores et de particules • ...

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