Microscopes pour nanotechnologie

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microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... Le FE-SEM moderne exige non seulement des performances élevées, mais aussi une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation de zones étendues, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie à haute résolution à de faibles ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU5000

Résolution spatiale: 1,2 nm

... experts du jour au lendemain. - La technologie de réglage automatique des axes (auto-calibration) permet de rétablir le microscope dans son "meilleur état" à la demande. - Une chambre à échantillons robuste "extractible" ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Performance et puissance dans une plate-forme flexible Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM 1000 II

Grossissement: 6 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5, 15 nm

... MEB fonctionne à l'énergie propre, ce qui en fait un outil d'analyse économique, sans compromis sur les performances. Le microscope électronique à balayage FlexSEM 1000 II est doté d'un système optique électronique et ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
TM4000 series

Grossissement: 10 unit - 25 000 054 unit
Poids: 54 kg
Longueur: 614, 617 mm

... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Cold FEG) - Colonne et blocs d'alimentation ultra-stables pour une meilleure performance de l'instrument - Capacité d'imagerie SEM et STEM simultanée avec correction Cs et résolution atomique - Nouvelle platine à entrée ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FIB/SEM
microscope FIB/SEM
NX5000

Résolution spatiale: 60, 1,5, 4, 0,7 nm

... Des performances inégalées avec une flexibilité ultime Le FIB-SEM Ethos d'Hitachi intègre la dernière génération de FE-SEM avec une luminosité et une stabilité de faisceau exceptionnelles. Ethos offre une imagerie haute résolution à basse ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope métallographique
microscope métallographique
DS series

... lumineuses de BF, DF, DIC et POL pour les analyses multiples. Microscope inversé d'entrée de gamme pour les applications générales d'essai de dureté. Microscope inversé industriel et de science des matériaux ...

microscope à balayage de sonde
microscope à balayage de sonde
Dimension XR

Résolution spatiale: 0 nm - 100 nm

... Systèmes de recherche extrême pour la nanomécanique, la nanoélectricité et la nanoélectrochimie Les systèmes de microscope à sonde à balayage (SPM) Dimension XR de Bruker intègrent des décennies de recherche et d'innovation ...

microscope optique
microscope optique
Eclipse LV100ND

Poids: 9,5 kg
Longueur: 362 mm
Largeur: 251 mm

... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope métallurgique
microscope métallurgique
ECLIPSE MA200

Grossissement: 1 unit - 100 unit
Longueur: 295 mm
Largeur: 215 mm

... La conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
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