Microscopes électroniques à balayage

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microscope SEM
microscope SEM
Phenom XL G3

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 µm - 10 µm

... Un MEB à grande chambre éprouvé pour l'imagerie et l'analyse rapides des matériaux Le Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop SEM ouvre la voie à un contrôle qualité et à une analyse des défaillances plus rapides et plus efficaces. Sa ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom Pro G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 5, 6, 10, 20 nm
Poids: 50 kg

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom ProX G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6 nm

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
ZEISS EVO

... résultats rapides et un rapport qualité-prix supérieur. De plus, les fonctions d'automatisation pour un fonctionnement en automatique sans surveillance vous permettent de gagner un temps précieux. L’EVO est facile à utiliser, même ...

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU9600 (T)SEM

Résolution spatiale: 0,4, 1, 0,6 nm

... Présentation
Le SU9600 (T)SEM est un microscope électronique à balayage modulaire et hybride combinant un UHR-SEM ultra-haute résolution et des capacités STEM analytiques avec ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3 series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm

... optiques d'émission de champ en tungstène ou Schottky sont disponibles. Les SU3800 et SU3900 sont dotés d'un logiciel, d'une électronique et d'une plate-forme de détection communs. Caractéristiques du produit : - Détecteurs Hitachi à ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
TM4000PlusIII

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 55, 53 kg
Longueur: 614, 617 mm

... extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps record avec une bonne ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-IT710HR

... donne aux utilisateurs l'envie d'aller au-delà de ce qui a été vu, grâce à la facilité d'utilisation avec des fonctions automatiques améliorées et à l'amélioration des performances d'observation grâce à un nouveau détecteur. *HR=Haute ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
CEM3000A

Grossissement: 40 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 4 nm - 8 nm
Poids: 120 kg

... Caractéristiques techniques

  • Modèle produit : CEM3000A
  • Nom du produit : Microscope électronique à balayage
  • Grossissement (image électronique) : 40×–300 000×
...

microscope SEM
microscope SEM
VEGA

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4ème génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse de la composition des éléments vivants ...

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Tescan GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM3200

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4, 7, 3 nm
Poids: 480 kg

... CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique
microscope électronique
AA8000

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 3 nm

microscope SEM
microscope SEM

... documentation de la surface d'un composant pour révéler les irrégularités. Microscope électronique à balayage (MEB) - Microphone - Outillage CNC Un microscope électronique ...

microscope électronique à balayage
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ECHO VS™

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