Microscopes électroniques à balayage

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microscope SEM
microscope SEM
Axia ChemiSEM

Résolution spatiale: 3, 8, 7 nm
Poids: 10 kg

... Instrument SEM EDS flexible, facile à utiliser et offrant une analyse élémentaire instantanée et quantitative. Imagerie SEM et analyse élémentaire EDS Bien que la microscopie électronique ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Verios 5 XHR

Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm

... Caractérisation par microscopie électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Quattro ESEM

Résolution spatiale: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Microscope électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'étude des matériaux à l'état naturel. Microscope électronique à balayage ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Performance et puissance dans une plate-forme flexible Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur ...

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM 1000 II

Grossissement: 6 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5, 15 nm

... en fait un outil d'analyse économique, sans compromis sur les performances. Le microscope électronique à balayage FlexSEM 1000 II est doté d'un système optique électronique ...

microscope SEM
microscope SEM
TM4000 series

Grossissement: 10 unit - 25 000 054 unit
Poids: 54 kg
Longueur: 614, 617 mm

... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
ZEISS EVO

... Dans un environnement industriel de qualité, d'analyse de défaillance ou de recherche, le microscope électronique à balayage (MEB) est la solution de choix pour les applications de métallographie ...

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ZEISS Industrial Metrology
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM3200

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 3, 4, 8 nm
Poids: 480 kg

... Le CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène de haute performance. Il offre une excellente qualité d'image, une compatibilité avec le mode faible ...

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM5000X

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,6 nm
Poids: 400 kg

... Le SEM5000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) à ultra-haute résolution résolution de 0,6 nm@15 kV et de 1,0 nm@1 kV. Bénéficiant d'un processus d'ingénierie ...

microscope SEM
microscope SEM
Sigma​ series

La série ZEISS Sigma combine la technologie de microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec une excellente expérience d'utilisation. Elle contribue à structurer ...

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ZEISS Métrologie industrielle
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-7900F

Grossissement: 3 500 unit - 100 000 unit

... tout niveau d'opérateur dans un environnement polyvalent. Neo Engine(New Electron Optical Engine) (Nouveau moteur optique électronique) Fonctionnalité nouvellement développée qui intègre le système de contrôle de l'objectif ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
VEGA

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4ème génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse de la composition des ...

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Tescan GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
ECHO VS™

microscope électronique
microscope électronique
AA8000

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 3 nm

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