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... Utilisez le microscope d'inspection entièrement motorisé DM6M avec tous les modes de contraste et bénéficiez d'une vaste plage de grossissement à partir de 1,25x pour une vue d'ensemble rapide de l'échantillon. Le gestionnaire de lumière ...
Leica Microsystems GmbH
... d’éclairage et d’autres fonctions de microscope. Vous pouvez également gagner en confort et réduire les tensions grâce à la conception ergonomique du microscope. Cette configuration inclut le microscope ...
Leica Microsystems GmbH
... d’éclairage et d’autres fonctions de microscope. Vous pouvez également gagner en confort et réduire les tensions grâce à la conception ergonomique du microscope. Cette configuration inclut le microscope ...
Leica Microsystems GmbH
Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caractérisation par microscopie électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique à balayage Verios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 6 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Largeur: 340 mm
... compris la température, la position de la platine et la pression. Que vous travailliez dans un laboratoire universitaire, industriel ou gouvernemental, ce système convivial offre la polyvalence dont vous avez besoin pour effectuer des ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Poids: 5 kg
Largeur: 340 mm
... temps passé au microscope est précieux, et il faut éviter de consacrer trop de temps à la maintenance, aux alignements, à la formation ou à l'optimisation de l'image. Microscope électronique à balayage ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... offre des temps d'exposition et de reconstruction des données rapides. Obtenez des données 3D sur des composants électroniques entiers intacts, de grands échantillons de matières premières ou des échantillons biologiques. ...
Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm
... optiques d'émission de champ en tungstène ou Schottky sont disponibles. Les SU3800 et SU3900 sont dotés d'un logiciel, d'une électronique et d'une plate-forme de détection communs. Caractéristiques du produit : - Détecteurs Hitachi à ...
Grossissement: 1 unit - 330 unit
Résolution spatiale: 10 nm
... grand champ pour déterminer facilement la plage de mesure, la reconnaissance automatique des cibles, le réglage automatique de la position de mesure et l'analyse automatique via le programme standard ...
Grossissement: 32, 50, 6, 10 unit
... Microscope numérique compact Full HD pour une inspection rapide et précise là où vous en avez besoin. Des optiques sur mesure de haute qualité et des fonctionnalités numériques se combinent pour des performances ...
Vision Engineering Ltd.
Grossissement: 50 unit
Poids: 45 kg
... La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande ...
Nikon Metrology
Grossissement: 10 unit - 220 unit
Résolution spatiale: 650 nm
Poids: 137 g
... point pour améliorer la profondeur de champ sur des surfaces rugueuses ou irrégulières. A la lecture de l'agrandissement automatique (AMR) intégré, les mesures peuvent être effectuées facilement et rapidement. En raison du filtre de polarisation ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Poids: 97 g
Longueur: 11,5 cm
... Présentation
Dino-Lite AF7115MZT est un
microscope
numérique 5.0 mégapixels offrant une imagerie haute résolution et une plage de grossissement de 20x à 220x. Ce modèle intègre le Flexible LED Control (FLC) ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Grossissement: 5 unit - 50 unit
Poids: 105 g
Longueur: 10,5 cm
... grand champ de vision et une fonction de zoom pour révéler les petits détails. Différents capuchons sont fournis avec le microscope faisant du Dino-Lite Edge le choix parfait pour toute application professionnelle. ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Grossissement: 5 unit - 100 unit
Résolution spatiale: 2 µm
Longueur: 18 cm
... Présentation du produit
Le WY-C est un
microscope métallographique inversé équipé d'objectifs métallographiques professionnels à longue distance de travail et de oculaires plan, offrant une imagerie haute résolution, un fort ...
Grossissement: 0 unit - 2 000 unit
... - WIFI connection&PC connection：Compatible avec de nombreux systèmes d'exploitation, transmission en temps réel sans mise en mémoire tampon, imagerie claire, facile à comprendre en un coup d'œil - 2000X enlarge：Capable d'observer les cellules, grossissement ...
... semi-conducteurs et les cartes de circuits intégrés dans l' industrie électronique, l'agriculture et l'enseignement de l' industrie électronique et de l'instrumentation pour l'inspection, ...
Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4, 7, 3 nm
Poids: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il dispose également ...
CIQTEK Co., Ltd.
Poids: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Longueur: 467 mm
Largeur: 192 mm
... Votre microscope à matériaux avec lumière réfléchie et transmise et, en option, imagerie sans fil. Primotech est votre solution d'imagerie intelligente avec un rapport prix/performance attractif. Accédez à plusieurs microscopes ...
Résolution spatiale: 0,02 µm
... Présentation du produit
Le
microscope à force atomique (AFM wafer-level) est un instrument de sonde à balayage haute résolution conçu pour caractériser la morphologie tridimensionnelle des surfaces et les propriétés multifonctionnelles ...
Résolution spatiale: 1 300, 1 550, 1 100, 1 450 nm
... Vue d'ensemble
Ce
microscope NIR est configuré pour l'imagerie proche infrarouge des wafers silicium par le côté arrière. Les démonstrations et les jeux de données mettent l'accent sur la comparaison de longueurs d'onde et les ...
Grossissement: 2 unit - 73 unit
Poids: 5 kg
... : utilisation universelle pour les tâches d'inspection, de réparation et de test inspection de cartes de circuits imprimés combinable avec des tables d'inspection et des platines à billes pour un positionnement exact documentation ...
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