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Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caractérisation par microscopie électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique à balayage Verios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 6 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Largeur: 340 mm
... compris la température, la position de la platine et la pression. Que vous travailliez dans un laboratoire universitaire, industriel ou gouvernemental, ce système convivial offre la polyvalence dont vous avez besoin pour effectuer des ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Poids: 5 kg
Largeur: 340 mm
... temps passé au microscope est précieux, et il faut éviter de consacrer trop de temps à la maintenance, aux alignements, à la formation ou à l'optimisation de l'image. Microscope électronique à balayage ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... et d’un confort accrus dans votre routine quotidienne au microscope. Le microscope pour matériaux Visoria M convient aux applications dans les secteurs des métaux, des composants électroniques et des ...
... offre des temps d'exposition et de reconstruction des données rapides. Obtenez des données 3D sur des composants électroniques entiers intacts, de grands échantillons de matières premières ou des échantillons biologiques. ...
Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm
... optiques d'émission de champ en tungstène ou Schottky sont disponibles. Les SU3800 et SU3900 sont dotés d'un logiciel, d'une électronique et d'une plate-forme de détection communs. Caractéristiques du produit : - Détecteurs Hitachi à ...
Grossissement: 1 unit - 330 unit
Résolution spatiale: 10 nm
... grand champ pour déterminer facilement la plage de mesure, la reconnaissance automatique des cibles, le réglage automatique de la position de mesure et l'analyse automatique via le programme standard ...
Grossissement: 50 unit
Poids: 45 kg
... La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande ...
Nikon Metrology
Grossissement: 32, 50, 6, 10 unit
... Microscope numérique compact Full HD pour une inspection rapide et précise là où vous en avez besoin. Des optiques sur mesure de haute qualité et des fonctionnalités numériques se combinent pour des performances ...
Vision Engineering Ltd.
Grossissement: 10 unit - 220 unit
Résolution spatiale: 650 nm
Poids: 137 g
... point pour améliorer la profondeur de champ sur des surfaces rugueuses ou irrégulières. A la lecture de l'agrandissement automatique (AMR) intégré, les mesures peuvent être effectuées facilement et rapidement. En raison du filtre de polarisation ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Grossissement: 5 unit - 50 unit
Poids: 105 g
Longueur: 10,5 cm
... grand champ de vision et une fonction de zoom pour révéler les petits détails. Différents capuchons sont fournis avec le microscope faisant du Dino-Lite Edge le choix parfait pour toute application professionnelle. ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Grossissement: 20 unit - 220 unit
Résolution spatiale: 650 nm
Poids: 135 g
... lorsque vous travaillez avec des objets brillants ou réfléchissants tels que le métal, le plastique, le verre, les bijoux, l' électronique, etc. Les caractéristiques principales du AM7115MZT sont: • Capteur 5 mégapixel Edge • Grossissement ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Grossissement: 20 unit - 150 unit
... entre les angles de vue 2D et 3D. ● Il peut être largement utilisé dans des domaines tels que la microélectronique, l' électronique de précision, la détection des joints de soudure SMS, les moules de matériel de précision, les enquêtes ...
Mikrosize
... semi-conducteurs et les cartes de circuits intégrés dans l' industrie électronique, l'agriculture et l'enseignement de l' industrie électronique et de l'instrumentation pour l'inspection, ...
Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4, 7, 3 nm
Poids: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il dispose également ...
CIQTEK Co., Ltd.
Poids: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Longueur: 467 mm
Largeur: 192 mm
... Votre microscope à matériaux avec lumière réfléchie et transmise et, en option, imagerie sans fil. Primotech est votre solution d'imagerie intelligente avec un rapport prix/performance attractif. Accédez à plusieurs microscopes ...
Résolution spatiale: 0,02 µm
... Présentation du produit
Le
microscope à force atomique (AFM wafer-level) est un instrument de sonde à balayage haute résolution conçu pour caractériser la morphologie tridimensionnelle des surfaces et les propriétés multifonctionnelles ...
Grossissement: 2 unit - 73 unit
Poids: 5 kg
... : utilisation universelle pour les tâches d'inspection, de réparation et de test inspection de cartes de circuits imprimés combinable avec des tables d'inspection et des platines à billes pour un positionnement exact documentation ...
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