Microscope électronique à balayage à émission de champ Apreo ChemiSEM

pour analysepour l'inspection des inclusions non métalliqueséducatif

Présentation
Le Thermo Scientific Apreo ChemiSEM System est un microscope électronique à balayage analytique (MEB) offrant une résolution nanométrique et sub‑nanométrique à une distance de travail analytique de 10 mm. La source à canon à émission de champ (FEG) et l'optique avancée permettent l'imagerie haute résolution des matériaux sensibles au faisceau, des composites, des échantillons magnétiques et des nanomatériaux, tout en assurant des performances analytiques intégrées pour la caractérisation corrélée structure/composition.

Capacités analytiques intégrées
La technologie ChemiSEM intègre l'imagerie MEB avec la spectroscopie X par dispersion d'énergie (EDS) pour fournir une cartographie élémentaire quantitative en direct. Le système prend également en charge l'EBSD pour l'analyse cristallographique et d'orientation, permettant des flux de travail multimodaux combinant données morphologiques, élémentaires et cristallographiques.

Principales caractéristiques

• Canon à émission de champ (FEG) pour une imagerie haute résolution à l'échelle nanométrique et sub‑nanométrique.
• Distance de travail analytique : 10 mm, optimisée pour les performances intégrées MEB/EDS/EBSD.
• EDS intégré pour la cartographie élémentaire quantitative en direct ; prise en charge de l'EBSD pour l'analyse cristallographique.
• Optique auto‑alignante et technologie SmartAlign pour maintenir l'alignement automatique et la disponibilité à l'imagerie.
• Smart Frame Integration (SFI) fonctionnant en temps réel pour optimiser dynamiquement les réglages des détecteurs et obtenir des images de haute qualité.
• Fonctions d'automatisation incluant autofocus et autostigmation pour réduire les réglages manuels et accélérer les acquisitions.
• Options de détecteurs multiples : détecteur d'électrons secondaires Everhart‑Thornley, détecteur d'électrons rétrodiffusés, détecteur de cathodoluminescence et options pour faible vide adaptées aux échantillons sensibles au faisceau.
• Objectif final électrostatique pouvant être combiné avec l'immersion magnétique pour des besoins de résolution maximale.
• Large platine motorisée avec porte‑échantillons multiple et mise sous vide rapide pour améliorer le débit et la productivité opérateur.

Applications
Le système convient aux applications en science des matériaux et R&D industrielle, notamment la caractérisation des composites, polymères, nanomatériaux, matériaux catalytiques, échantillons magnétiques et autres spécimens sensibles au faisceau ou chargés. Le fonctionnement à basse tension d'accélération permet la caractérisation d'échantillons délicats et sensibles en surface.

Ressources et médias
Les ressources disponibles comprennent des brochures téléchargeables, une galerie d'images et une vidéo de présentation du produit (titre du teaser : "Introducing the new Apreo ChemiSEM System").

Remarques
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.

Caractéristiques techniques

• Nom commercial : Apreo ChemiSEM System
• Fabricant / marque : Thermo Scientific
• Source d'électrons : canon à émission de champ (FEG)
• Distance de travail analytique : 10 mm
• Techniques intégrées : imagerie MEB, EDS (spectroscopie X par dispersion d'énergie), prise en charge EBSD
• Cartographie élémentaire quantitative en direct via ChemiSEM Technology
• Détecteurs : détecteur SE Everhart‑Thornley, détecteur d'électrons rétrodiffusés, détecteur de cathodoluminescence, options pour faible vide
• Améliorations d'imagerie : Smart Frame Integration (SFI), SmartAlign, autofocus, autostigmation
• Optique : objectif final électrostatique avec option immersion magnétique
• Manipulation des échantillons : large platine, porte‑échantillons multiple, mise sous vide rapide
• Types d'échantillons adaptés : matériaux sensibles au faisceau, polymères, composites, échantillons magnétiques, nanomatériaux