Microscopes d'électrons secondaires

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microscope SEM
microscope SEM
Phenom XL G3

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 µm - 10 µm

... Un MEB à grande chambre éprouvé pour l'imagerie et l'analyse rapides des matériaux Le Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop SEM ouvre la voie à un contrôle qualité et à une analyse des défaillances plus rapides et plus efficaces. Sa ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope à rayons X
microscope à rayons X
Phenom Pro G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Poids: 50 kg

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom ProX G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6 nm

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal de transmission ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie à faible contamination ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ des échantillons ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-IT710HR

... Une visibilité claire favorise les nouvelles découvertes De nos jours, non seulement la résolution et la performance analytique à l'échelle du nanomètre, mais aussi la rapidité d'acquisition des données sont considérées comme importantes. Le tout nouveau ...

microscope SEM
microscope SEM
CEM3000A

Grossissement: 40 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 4 nm - 8 nm
Poids: 120 kg

... : ≤ 4 nm (SE), ≤ 8 nm (BSE) @20 kV

  • Tension d'accélération : 1 kV–20 kV
  • Détecteurs : Électrons secondaires (SE) — standard ; Électrons rétrodiffusés (BSE) — standard (sonde haute résolution
  • ...

    microscope FIB/SEM
    microscope FIB/SEM
    AMBER X

    ... Une combinaison unique de FIB plasma et de MEB UHR sans champ pour la caractérisation des matériaux à plusieurs échelles - Traitement FIB à haut débit et grande surface jusqu'à 1 mm - Préparation de micro-échantillons sans Ga - Imagerie et analyse FEG-SEM ...

    microscope AFM-MEB
    microscope AFM-MEB
    FusionScope®

    Grossissement: 25 unit - 200 000 unit
    Poids: 330 kg
    Longueur: 835 mm

    ... Le FusionScope est un microscope corrélatif AFM/SEM qui a été conçu dès le départ pour vous permettre de tirer parti de la combinaison de ces deux méthodes d'analyse. Pour la plupart des analyses, il est souvent souhaitable d'analyser ...

    microscope électronique à balayage à émission de champ
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    SEM5000Pro

    Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
    Résolution spatiale: 0,8 nm - 1,3 nm
    Poids: 950 kg

    ... Microscope FESEM CIQTEK SEM5000Pro Spécifications -Optique électronique Résolution:0.8 nm @ 15 kV, SE/1.2 nm @ 1.0 kV, SE Tension d'accélération:0.02kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid):1 ~ 2,500,000 x Type de canon à électrons:Pistolet ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
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