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Résolution spatiale: 1 µm
... Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour effectuer des inspections de grande qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres échantillons de grande taille. Leur ...
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal de transmission ...
Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm
... efficacité : -- Détecteur d'électrons secondaires pour le vide poussé -- Détecteur d'électrons rétrodiffusés à semi- conducteur à 5 segments pour le vide poussé et le vide poussé, sélection de différents modes ...
Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm
... Le HF5000 est un S/TEM corrigé en Cs qui peut être personnalisé pour des expériences in situ. La particularité est le détecteur Everhart Thornley SE, qui image la surface de l'échantillon à 60-200kV, comme dans un MEB. Ceci est particulièrement avantageux ...
Grossissement: 10 unit - 5 480 000 unit
Résolution spatiale: 0,7 nm - 3 nm
... des champs scientifique de la biologie aux sciences durs des matériaux. Le microscope électronique à balayage JSM-IT800 utilise une plateforme facile d’utilisation, le SEM Center, cette plate-forme est commune avec ...
Poids: 9,5 kg
Longueur: 613 mm
Largeur: 251 mm
... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE LV100NDA et LV100ND Ces ...
Nikon Metrology
... Le nouveau "Machine Vision Microscope" (MVM) est un microscope numérique avec toutes les caractéristiques qui en font un vrai microscope. Un assemblage d’optiques de microscopie à correction apochromatique ...
... lumineuses de BF, DF, DIC et POL pour les analyses multiples. Microscope inversé d'entrée de gamme pour les applications générales d'essai de dureté. Microscope inversé industriel et de science des matériaux spécialement ...
Grossissement: 66 unit - 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 1,3 nm
Longueur: 1 716 mm
... Microscope électronique à balayage à grande vitesse pour l'imagerie transversale d'échantillons de grand volume Le CIQTEK HEM6000 utilise des technologies telles que le canon à électrons à grand faisceau de haute luminosité, le système ...
... transducteurs jusqu'à 400 MHz, contrôlés par une interface graphique conviviale. Construit selon les normes de l'industrie des semi- conducteurs autour d'une plate-forme centrale utilisant les dernières technologies de ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Le microscope zoom de la série ZTX-S adopte un système d'imagerie optique, avec une haute résolution, une définition fine et un sens aigu de la tridimensionnalité, ainsi qu'un fonctionnement facile. Le microscope est ...
... tourelle rotative dirigée vers l'intérieur et associé à des objectifs longue distance de travail. • Microscope idéal pour les semi- conducteurs. • Les modèles FS L et L4 compatibles laser YAG ...
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