Microscopes pour semi-conducteurs

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microscope optique
microscope optique
MX63 series

Résolution spatiale: 1 µm

... Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour effectuer des inspections de grande qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres échantillons de grande taille. Leur ...

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3 series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm

... efficacité : -- Détecteur d'électrons secondaires pour le vide poussé -- Détecteur d'électrons rétrodiffusés à semi- conducteur à 5 segments pour le vide poussé et le vide poussé, sélection de différents modes ...

microscope STEM
microscope STEM
HF5000

... Grâce au correcteur Cs, la surface peut être visualisée avec une résolution atomique. La commutation routinière et rapide entre TEM et STEM facilite le travail quotidien avec un correcteur Cs entièrement automatisé, même pour les débutants ...

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-IT800 series

Grossissement: 10 unit - 5 480 000 unit
Résolution spatiale: 0,7 nm - 3 nm

... des champs scientifique de la biologie aux sciences durs des matériaux. Le microscope électronique à balayage JSM-IT800 utilise une plateforme facile d’utilisation, le SEM Center, cette plate-forme est commune avec ...

microscope optique
microscope optique
Eclipse LV100NDA

Poids: 9,5 kg
Longueur: 613 mm
Largeur: 251 mm

... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE LV100NDA et LV100ND Ces ...

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Nikon Metrology
microscope opto-numérique
microscope opto-numérique
MVM

... Le nouveau "Machine Vision Microscope" (MVM) est un microscope numérique avec toutes les caractéristiques qui en font un vrai microscope. Un assemblage d’optiques de microscopie à correction apochromatique ...

microscope métallographique
microscope métallographique
DS series

... lumineuses de BF, DF, DIC et POL pour les analyses multiples. Microscope inversé d'entrée de gamme pour les applications générales d'essai de dureté. Microscope inversé industriel et de science des matériaux spécialement ...

microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
HEM6000

Grossissement: 66 unit - 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 1,3 nm
Longueur: 1 716 mm

... Microscope électronique à balayage à grande vitesse pour l'imagerie transversale d'échantillons de grand volume Le CIQTEK HEM6000 utilise des technologies telles que le canon à électrons à grand faisceau de haute luminosité, le système ...

microscope pour analyse
microscope pour analyse
SAM 400

... transducteurs jusqu'à 400 MHz, contrôlés par une interface graphique conviviale. Construit selon les normes de l'industrie des semi- conducteurs autour d'une plate-forme centrale utilisant les dernières technologies de ...

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PVA TePla Analytical Systems GmbH
microscope optique
microscope optique
ZTX-S series

... Le microscope zoom de la série ZTX-S adopte un système d'imagerie optique, avec une haute résolution, une définition fine et un sens aigu de la tridimensionnalité, ainsi qu'un fonctionnement facile. Le microscope est ...

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