Microscopes pour batteries

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microscope SEM
microscope SEM
Phenom XL G3

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 µm - 10 µm

... Un MEB à grande chambre éprouvé pour l'imagerie et l'analyse rapides des matériaux Le Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop SEM ouvre la voie à un contrôle qualité et à une analyse des défaillances plus rapides et plus efficaces. Sa ...

microscope pour batterie
microscope pour batterie
Phenom ParticleX

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm
Poids: 75 kg

... rapide de la fabrication et de l'analyse des batteries, la rapidité est essentielle. Mais la précision de l'analyse des particules l'est tout autant. Le Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM vous offre ...

microscope SEM
microscope SEM
CEM3000A

Grossissement: 40 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 4 nm - 8 nm
Poids: 120 kg

... Présentation

  • Microscope électronique à balayage sur paillasse CEM3000A conçu pour l'observation de la morphologie à l'échelle microscopique et l'analyse des surfaces de matériaux. Permet l'imagerie à fort contraste et
...

microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM4000Pro

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9 nm - 2,5 nm

... CIQTEK SEM4000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ thermique analytique équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky longue durée à haute luminosité. La conception de lentille magnétique à trois ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM2100

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4,5, 3,9 nm

... Spécifications du microscope MEB CIQTEK SEM2100 Optique électronique Résolution : 3.9 nm à 20 kV, SE 4.5 nm à 20 kV, BSE Tension d'accélération : 0,5 kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid) : 1 x ~ 300 000 x Chambre à échantillons Caméra ...

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microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM4000X

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Spécifications du microscope FESEM CIQTEK SEM4000X Optique électronique - Résolution : 0.9 nm@ 30 kV, SE 1.2 nm@15 kV, SE 1.9 nm@1 kV, SE 1.5 nm@1 kV (décélération du faisceau ultra) ...

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