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Résolution spatiale: 0,3 nm - 1,5 nm
Poids: 500 g
... Préparation d'échantillons pour l'imagerie TEM et STEM ou la tomographie par sonde atomique. Facile à utiliser grâce à une automatisation avancée. Capacité de caractérisation 3D de la subsurface de haute ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 2, 10, 3 nm
... Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ de table pour une imagerie de haute qualité dans toutes les disciplines. Microscope électronique à balayage ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,6, 1,2, 0,7, 1 nm
... rapide des échantillons et une analyse de défaillance haute fidélité. Préparation d'échantillons STEM et TEM sans gallium Préparation d'échantillons TEM et APT de haute qualité et sans ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... d'échantillonnage à entrée latérale ultra stable, similaire aux systèmes TEM haut de gamme, et intègre un amortissement optimisé des vibrations ainsi qu'une armoire fermée pour protéger l'optique électronique ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme FE-SEM révolutionnaire ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Dans un environnement industriel de qualité, d'analyse de défaillance ou de recherche, le microscope électronique à balayage (MEB) est la solution de choix pour les applications de métallographie et d'analyse ...
... MICROSCOPE NUMÉRIQUE POUR MESURES AUTOMATIQUES BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscope électronique pour la mesure automatique de l'indentation Brinell avec une bille de Ø 2,5 ou 5 ou ...
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 3, 4, 8 nm
Poids: 480 kg
... Le CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène de haute performance. Il offre une excellente qualité d'image, une compatibilité avec le mode faible vide, des images ...
CIQTEK Co., Ltd.
Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 1, 1,5, 0,8 nm
Poids: 950 kg
... Le CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception avancée de la colonne, technologie de tunnel ...
CIQTEK Co., Ltd.
Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ thermique analytique équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky longue durée à haute luminosité. La ...
CIQTEK Co., Ltd.
Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution (FE-SEM) avec la capacité de traitement d'un faisceau d'ions focalisés (FIB) ...
ZEISS Métrologie industrielle
... refroidissement à l'azote liquide à entrée latérale et d'un système automatisé de changement d'échantillons, est un microscope cryo-électronique (cryo-EM) qui permet l'observation de biomolécules à cryo-température. ...
Jeol
Résolution spatiale: 20 nm
... temporelle et l'imagerie dans l'espace K ne sont que quelques exemples de la recherche active du PEEM. Contrairement au microscope électronique à balayage (MEB), le MEBE reproduit directement en temps ...
Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 3 nm
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