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Microscopes électroniques
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microscope pour batteriePhenom ParticleX
Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm
Poids: 75 kg
... Le Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM offre une vitesse et une précision exceptionnelles. Il offre un débit fulgurant, jusqu'à 10 fois plus rapide que les microscopes électroniques ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Poids: 75 kg
... d'une meilleure productivité. Ressources Phenom Pharos G2 SEM Vous souhaitez en savoir plus sur le Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM ? Plongez dans une mine de ressources, des livres électroniques aux fiches techniques. Facilitez ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caractérisation par microscopie électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique à balayage Verios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage à émission de champZEISS GeminiSEM
Résolution spatiale: 0,7, 1,2 nm
... difficultés à une résolution sub-nanométrique. Ces FE-SEM ( microscope électronique à balayage à émission de champ) excellent tant dans l'imagerie que dans l'analyse. Des innovations dans l'optique électronique ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... résultats rapides et un rapport qualité-prix supérieur. De plus, les fonctions d'automatisation pour un fonctionnement en automatique sans surveillance vous permettent de gagner un temps précieux. L’EVO est facile à utiliser, même ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution (FE-SEM) avec la capacité d'un faisceau d'ions focalisé (FIB) de nouvelle génération. Tirez ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal de transmission en fonction de l'angle de diffusion - L'émetteur de champ froid combiné ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm
... l'imagerie à haute résolution avec tous les détecteurs sont possibles à une distance de travail de 6 mm - Des fonctions automatiques fiables telles que l'adaptation aux conditions optiques définies par l'utilisateur ou l'autofocus 2D ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Ces fonctions comprennent le réglage des conditions d'observation définies par l'utilisateur, l'excellente mise au point automatique 2D et le stigmateur automatique, etc. - La chambre d'échange d'échantillons permet de charger rapidement ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... intègre les dernières technologies JEOL pour la cryo-microscopie : Cold FEG, filtre en énergie Omega, système d’échange automatique des échantillons à température cryogénique… Le système permet l’échange d’un ou de plusieurs échantillons ...
Jeol
Grossissement: 50 unit
Poids: 45 kg
... La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande ...
Grossissement: 20 unit - 220 unit
Poids: 125 g
Longueur: 10,5 cm
... Le Dino-Lite AM5218MZT Edge peut être connecté directement à un téléviseur HD ou un moniteur LCD via une interface numérique DVI/HDMI directe. Il offre une résolution nette et éclatante en HD 720p pour afficher les moindres détails. Le ...
... MICROSCOPE NUMÉRIQUE POUR MESURES AUTOMATIQUES BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscope électronique pour la mesure automatique de l'indentation Brinell ...
Résolution spatiale: 20 nm
... temporelle et l'imagerie dans l'espace K ne sont que quelques exemples de la recherche active du PEEM. Contrairement au microscope électronique à balayage (MEB), le MEBE reproduit directement en temps réel, sans balayage, ...
Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 3 nm
microscope électronique à balayageSEM3200
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4, 7, 3 nm
Poids: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il dispose également ...
CIQTEK Co., Ltd.
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