de laboratoirepour le contrôle qualitépour l'analyse de matériau
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Caractéristiques
Type
électronique à balayage
Applications
de laboratoire, pour le contrôle qualité, pour l'analyse de matériau, médical, pour semi-conducteur, pour matériaux
Ergonomie
droit
Qualité des objectifs
plan
Technique d'observation
in-situ
Configuration
au sol
Source de lumière
à illumination coaxiale
Source d'électrons
filament de tungstène
Source d'ions
à gallium
Conception de lentille
avec correcteur d'aberration
Type de détecteur
EBSD, détecteur de rayons X à dispersion d'énergie
Options et accessoires
assisté par ordinateur, USB
Autres caractéristiques
automatique, à haute vitesse
Grossissement
300 000 unit
Résolution spatiale
3 nm, 4 nm, 7 nm
Poids
480 kg (1 058,2 lb)
Longueur
926 mm (36,5 in)
Largeur
836 mm (32,9 in)
Hauteur
1 700 mm (66,9 in)
Description
CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il dispose également d’une grande profondeur de champ avec un environnement convivial pour caractériser les échantillons. De plus, une riche évolutivité aide les utilisateurs à explorer le monde de l'imagerie microscopique.
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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