Microscope électronique à balayage à émission de champ SEM5000Pro

de laboratoirepour le contrôle qualitéindustriel

Microscope FESEM CIQTEK SEM5000Pro Spécifications -Optique électronique Résolution：0.8 nm @ 15 kV, SE/1.2 nm @ 1.0 kV, SE Tension d'accélération：0.02kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid)：1 ~ 2,500,000 x Type de canon à électrons：Pistolet à électrons à émission de champ Schottky -Chambre d'échantillon Caméra：Double caméra (navigation optique + moniteur de chambre) Portée de la platine：X : 110 mm, Y : 110 mm, Z : 50 mm/T : -10°～ +70°, R : 360° détecteurs et extensions -SEM Standard：Inlens Electron Detector/Everhart-Thornley Detector (ETD) En option：Détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED) Microscope électronique à transmission rétractable (STEM) Détecteur à faible vide（LVD） Spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS / EDX) Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) Sas d'échange d'échantillons （4 pouces /8 pouces) Panneau de commande à boule de commande et à bouton -Logiciel Langue：Anglais Système d'exploitation：Windows Navigation：Optical Navigation, Gesture Quick Navigation, Trackball (en option) Fonctions automatiques：Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmateur automatique Le CIQTEK SEM5000Pro est un microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky (FE-SEM) spécialisé dans la haute résolution, même sous une faible tension d'excitation. L'utilisation d'une technologie avancée d'optique électronique "Super-Tunnel" facilite un trajet de faisceau sans croisement avec une conception de lentille composée électrostatique-électromagnétique. Ces avancées réduisent l'effet de charge spatiale, minimisent les aberrations de la lentille, améliorent la résolution d'imagerie à basse tension et permettent d'atteindre une résolution de 1,2 nm à 1 kV.