Microscopes d'électrons rétrodiffusés

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microscope SEM
microscope SEM
Phenom XL G3

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 µm - 10 µm

... Un MEB à grande chambre éprouvé pour l'imagerie et l'analyse rapides des matériaux Le Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop SEM ouvre la voie à un contrôle qualité et à une analyse des défaillances plus rapides et plus efficaces. Sa ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope à rayons X
microscope à rayons X
Phenom Pro G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Poids: 50 kg

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom ProX G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6 nm

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope à rayons X
microscope à rayons X
Phenom Pure G6

Grossissement: 160 unit - 175 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 15 nm
Poids: 50 kg

... Pure G6 Desktop SEM : L'option la plus basique et la plus économique, adaptée à l'enseignement et à la R&D de base. Phenom Pro G6 Desktop SEM : Un système d'imagerie avancé pour une large gamme d'applications. Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope pour batterie
microscope pour batterie
Phenom ParticleX

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm
Poids: 75 kg

... MEB Le Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM offre une vitesse et une précision exceptionnelles. Il offre un débit fulgurant, jusqu'à 10 fois plus rapide que les microscopes électroniques à balayage ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope à rayons X
microscope à rayons X
Phenom ParticleX TC

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm
Poids: 75 kg

... dans les environnements de fabrication exigeants comme l'automobile. Comparé aux microscopes optiques traditionnels, notre Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM vous permet non seulement d'effectuer des analyses ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique
microscope électronique
Phenom Pharos G2

Grossissement: 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Poids: 75 kg

... avantages en partie grâce à sa source d' électrons. Il utilise un canon à émission de champ, dans lequel un petit champ électromagnétique extrait les électrons de la source. Cela vous permet de mieux contrôler le microscope ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope à rayons X
microscope à rayons X
Axia ChemiSEM

Résolution spatiale: 7, 3, 8, 20 nm
Poids: 10 kg

... Le système Thermo Scientific Axia ChemiSEM a été conçu pour simplifier la microscopie et vous aider à améliorer votre analyse élémentaire quantitative. Doté d'une source en tungstène et de capacités de spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal de transmission ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie à faible contamination ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm

... Le SU8600 est le successeur de la famille éprouvée de MEB à émission de champ Regulus et répond aux exigences les plus élevées pour les applications orientées vers l'imagerie. L'émetteur à champ froid, dont l'émission est presque monochromatique, associé ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ des échantillons ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3800/3900 Family

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Caractéristiques du produit : - Détecteurs Hitachi à haute efficacité : -- Détecteur d' électrons secondaires pour le vide poussé -- Détecteur d' électrons rétrodiffusés à semi-conducteur à 5 segments ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM II

Grossissement: 6 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 15 nm

... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent pas non plus ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
TM4000PlusIII

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit

... de courant de sonde chacun - Caméra de navigation optique couleur - 3 étages de pression de chambre - détecteur d' électrons rétrodiffusés à 4 segments - Lecture du courant de la sonde et fonctionnalité IFT ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
CEM3000A

Grossissement: 40 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 4 nm - 8 nm
Poids: 120 kg

... nm (SE), ≤ 8 nm (BSE) @20 kV

  • Tension d'accélération : 1 kV–20 kV
  • Détecteurs : Électrons secondaires (SE) — standard ; Électrons rétrodiffusés (BSE) — standard (sonde haute résolution à
  • ...

    microscope électronique à balayage à émission de champ
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    SEM5000Pro

    Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
    Résolution spatiale: 0,8 nm - 1,3 nm
    Poids: 950 kg

    ... : 360° détecteurs et extensions -SEM Standard:Inlens Electron Detector/Everhart-Thornley Detector (ETD) En option:Détecteur d' électrons rétrodiffusés rétractable (BSED) Microscope ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    SEM4000Pro

    Grossissement: 1 000 000 unit
    Résolution spatiale: 0,9 nm - 2,5 nm

    ... canon à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité et longue durée de vie •Haute résolution, meilleure que 1 nm à 30 kV •Conception de lentille magnétique à trois niveaux, large plage de réglage du faisceau •* Détecteurs ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscope électronique à balayage
    microscope électronique à balayage
    SEM2100

    Grossissement: 300 000 unit
    Résolution spatiale: 4,5, 3,9 nm

    ... Détecteurs SEM Standard : Détecteur Everhart-Thornley (ETD) En option : Détecteur d' électrons rétrodiffusés rétractable (BSED) Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX) ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    SEM5000X

    Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
    Résolution spatiale: 0,6 nm - 1 nm
    Poids: 400 kg

    ... CIQTEK SEM5000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) ultra haute résolution avec une résolution révolutionnaire de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Bénéficiant du processus d'ingénierie de colonne ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
    microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
    DB550

    Résolution spatiale: 3, 0,9, 1,6 nm

    ... CIQTEK DB500 est un microscope électronique à balayage à émission de champ avec une colonne à faisceau d'ions focalisé pour l'analyse nanométrique et la préparation d'échantillons, qui est appliqué avec la technologie « SuperTunnel », ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscope filament de tungstène
    microscope filament de tungstène
    SEM 3300

    Grossissement: 1 unit - 300 000 unit
    Résolution spatiale: 2,5 nm - 5 nm
    Longueur: 926 mm

    ... Gamme T : - 10° ~ 90° Gamme R : 360° *Détecteurs SEM Standard : Détecteur d' électrons à lentille (Inlens) Détecteur Everhart-Thornley (ETD) En option : Détecteur d' électrons rétrodiffusés ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    HEM6000

    Grossissement: 66 unit - 1 000 000 unit
    Résolution spatiale: 1,3 nm
    Longueur: 1 716 mm

    ... Microscope électronique à balayage à grande vitesse pour l'imagerie transversale d'échantillons de grand volume Le CIQTEK HEM6000 utilise des technologies telles que le canon à électrons à grand faisceau de haute luminosité, ...

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    CIQTEK Co., Ltd.
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    microscope électronique à balayage à émission de champ
    SEM4000X

    Grossissement: 1 000 000 unit
    Résolution spatiale: 0,9, 1,2, 1,9 nm

    ... R : 360° Détecteurs et extensions SEM - Standard : Détecteur d' électrons dans l'objectif : UD-BSE/UD-SE Détecteur Everhart-Thornley : LD En option : Détecteur d' électrons ...

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