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Résolution spatiale: 7, 3, 8, 20 nm
Poids: 10 kg
... qu'avec les systèmes moyens. Tout cela fait du système Axia ChemiSEM un choix idéal pour les applications de science des matériaux telles que les enquêtes sur les défaillances de produits et l'identification des contaminants, où chaque ...
Résolution spatiale: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm
... focalisé, ou FIB-SEM) offre des capacités inégalées pour les applications de science des matériaux et des semi-conducteurs. Pour les chercheurs en science des matériaux, le PFIB DualBeam Helios 5 permet la caractérisation ...
... et d’autres fonctions de microscope. Vous pouvez également gagner en confort et réduire les tensions grâce à la conception ergonomique du microscope. Pour l’inspection de matériaux de routine Avec ...
... mesure que les exigences changent, une simple mise à niveau maintient votre système prêt pour toutes les applications de matériaux. " ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... L'alternative intelligente aux MEB de table : L’EVO offre les fonctionnalités d'un MEB conventionnel tout en offrant la rapidité et la facilité d'utilisation généralement associées aux solutions de table, le tout à un prix très attractif. Il offre ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution (FE-SEM) avec la capacité d'un faisceau d'ions focalisé (FIB) de nouvelle génération. Tirez parti du concept ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm
... à 5 segments pour le vide poussé et le vide poussé, sélection de différents modes de signal tels que le contraste des matériaux, la topographie de surface, la 3D -- Détecteur multifonction "UVD" en option : Electrons secondaires ...
Grossissement: 50 unit - 1 000 unit
Longueur: 25 cm
Largeur: 16 cm
... Introduction produit
Le
microscope métallographique inversé WY-E est équipé d'un système optique à correction de l'aberration chromatique pour l'infini (CSIS), offrant une amélioration de la qualité d'image et de la résolution ...
Grossissement: 40 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 4 nm - 8 nm
Poids: 120 kg
... Présentation
- Microscope électronique à balayage sur paillasse CEM3000A conçu pour l'observation de la morphologie à l'échelle microscopique et l'analyse des surfaces de matériaux. Permet l'imagerie à
Grossissement: 10 unit - 220 unit
Résolution spatiale: 650 nm
Poids: 137 g
Avec l'utilisation des plus récentes optiques de pointe, un tout nouveau capteur de 5 mégapixels et plusieurs fonctions spéciales, le Dino-Lite AM7915MZT est une merveille de la technologie et le meilleur choix pour les professionnels hautement exigeants. ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Grossissement: 20 unit - 220 unit
Résolution spatiale: 650 nm
Poids: 135 g
Avec l'utilisation des plus récentes optiques de pointe, un tout nouveau capteur de 5 mégapixels et plusieurs fonctions spéciales telles que le Contrôle flexible des LED (FLC) et le corps complètement en aluminium, le Dino-Lite AM7115MZT est une merveille ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Grossissement: 10 unit - 220 unit
Poids: 120 g
Longueur: 130 mm
... de la microscopie numérique portable, le AM8917MZT de 8 mégapixels est un microscope numérique haute résolution capable de révéler les détails minuscules de la cible. Le microscope offre également une fidélité des couleurs ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
... Le nouveau "Machine Vision Microscope" (MVM) est un microscope numérique avec toutes les caractéristiques qui en font un vrai microscope. Un assemblage d’optiques de microscopie à correction apochromatique ...
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4, 7, 3 nm
Poids: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il dispose également d’une grande profondeur ...
CIQTEK Co., Ltd.
... 1. Application Le microscope métallographique HL401W est un microscope métallographique vertical trinoculaire, qui peut fournir une qualité d'image supérieure et un système de fonctionnement stable, une opération facile ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
Poids: 10,5, 12,3, 11,7, 10,3 kg
Longueur: 560 mm
Largeur: 235, 220 mm
... Votre microscope inversé de routine pour la science des matériaux. Analyse microstructurale et structurelle : Une question de contraste. Avec Axio Vert.A1, vous examinez des échantillons lourds et de grande taille, ...
Hitech Instruments
Résolution spatiale: 0,02 µm
... Présentation du produit
Le
microscope à force atomique (AFM wafer-level) est un instrument de sonde à balayage haute résolution conçu pour caractériser la morphologie tridimensionnelle des surfaces et les propriétés multifonctionnelles ...
Grossissement: 0,7 unit - 4 unit
Hauteur: 60 cm
... Binoculaire TIG universel pour un soudage précis et sécurisé Le binoculaire TIG s’adapte à tous les types et toutes les marques de postes de soudage, offrant une solution universelle pour les professionnels comme pour les passionnés. Équipé d’un écran ...
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