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Microscopes pour inspection de surface
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Résolution spatiale: 3, 15, 4 nm
Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
... Le SU3800 et le SU3900 sont des MEB à pression variable thermionique de haute performance. Le SU3900 est conçu pour étudier des échantillons larges, lourds ou multiples dans la chambre à échantillons extra large. Les SU3800/SU3900 sont ...

... Raman le plus fiable du marché. Le microscope Raman inVia™ est le microscope Raman de recherche par excellence pour vos besoins actuels et futurs. Bien que facile à utiliser, il offre des performances ...

Le nouvel inVia Qontor est le microscope Raman le plus perfectionné de Renishaw. Grâce à l’intégration de la technologie de suivi de mise au point LiveTrack™, la toute dernière innovation de Renishaw, le microscope ...

MICROSCOPE NUMÉRIQUE Affichage, capture et mesure à l’aide d’un seul système Keyence: Fabricant de microscopes numériques depuis plus de 30 ans Grande profondeur de champ : 20x supérieure à celle ...

Résolution spatiale: 0,2 mm
... performance offre la plus grande polyvalence optique pour de nombreuses applications. Grâce à sa conception compacte et à sa surface de montage pratique, le support de mise au point peut être facilement adapté à un banc ...

Grossissement: 100, 200, 400 unit
Poids: 8,5, 9,5, 10,1, 9,8 kg
Longueur: 410, 396 mm
Facile d'utilisation, la solution d'imagerie intelligente Primotech est spécialement adaptée pour un environnement industriel. Pouvant être commandée sans fil, cette solution d'imagerie intelligente permet de bénéficier d’un workflow ...

Le microscope confocal à champ large ZEISS Smartproof 5 est votre système polyvalent et intégré d'analyse de surface : rapide, précis et reproductible. Mettez-le au service d'un large éventail d'applications ...


microscope pour analyseZEISS Smartproof 5
Le microscope confocal polyvalent à champ large ZEISS Smartproof 5 est votre système intégré pour l'analyse de surface : rapide, précis et reproductible. Utilisez-le pour une large gamme d'applications ...

... métrologie et d'inspection idéal pour les fabricants de substrats et d'épitaxies de LED Le microscope à force atomique Dimension Edge™ PSS de Bruker avec le logiciel de métrologie AutoMET™ est le système ...

Grossissement: 5 unit - 100 unit
Fin et compact, l’ECLIPSE Ci-POL est un microscope polarisant à usage personnel qui saura se faire discret sur votre bureau. Système optique de pointe corrigé à l’infini, le CFI60 offre de grandes performances optiques ...
Nikon Metrology

... Les microscopes inversés sont compacts, durables et utilisés pour des besoins de fort grossissement. Ils sont idéaux pour l'analyse d'échantillons de montage avec des surfaces d'échantillon plates et ...


microscope numériqueDino-Lite Universal
Grossissement: 200 unit
... La série Dino-Lite Universal offre une large gamme de produits avec la plus haute qualité d'image, ainsi qu'un logiciel très convivial avec des fonctions de mesure complètes, et plusieurs caractéristiques matérielles et logicielles uniques ...
Metav Werkzeuge GmbH

Résolution spatiale: 1,5 µm
Grossissement: 400, 500, 900 unit
... petits objets sous le microscope. Ces caractéristiques uniques font des modèles Dino-Lite à fort grossissement d'excellents outils d'inspection pour la recherche biomédicale et scientifique, l'analyse ...
Metav Werkzeuge GmbH

... Grâce à la connexion sans fil Dino-Lite, les microscopes Dino-Lite peuvent être connectés à un smartphone ou un iPad via le WiFi. En outre, les microscopes peuvent également être utilisés par câble sur ...
Metav Werkzeuge GmbH

Résolution spatiale: 5 nm - 100 000 nm
... L'AFM de recherche compacte qui offre le meilleur rapport qualité-prix Le CoreAFM est le résultat d'une combinaison intelligente des composants de base de l'AFM pour atteindre un maximum de polyvalence et de convivialité. En raison de ...
Nanosurf

Résolution spatiale: 3 µm - 100 µm
... Le microscope à force atomique le plus flexible pour la recherche sur les matériaux Tête de balayage la plus flexible disponible Convient à toutes les tailles d'échantillons Concept modulaire : configurez votre FlexAFM ...
Nanosurf

Résolution spatiale: 5 µm - 110 µm
... Facile à intégrer La morphologie de surface est une propriété importante pour de nombreuses surfaces de haute technologie avec des caractéristiques qui peuvent descendre jusqu'à quelques nanomètres et ...
Nanosurf

Grossissement: 20 unit - 800 unit
... Le microscope mobile B30-MTM est utilisé pour inspecter les structures et les défauts sur les surfaces métallurgiques, par exemple les tuyaux de gaz. - Réglage fin X/Y - Alimentation électrique USB - ...

Grossissement: 40 unit - 1 000 unit
... améliorée du microscope MICROS AUSTRIA MCX100 jonquille avec un tout nouvel accessoire de fluorescence à LED et une platine en verre ! Tous les modèles de MCX100 sont maintenant fournis avec une embouchure 5x - au lieu ...

Résolution spatiale: 0,5 µm
... et les services de métrologie. Le projecteur de profil de mesure peut détecter la dimension du contour et la forme de la surface de diverses pièces complexes, telles que les gabarits, les pièces de poinçonnage, les cames, ...

Grossissement: 50 unit - 500 unit
... TIME-30MW est un microscope métallurgique trinoculaire inversé avec ordinateur, qui peut fournir une qualité d'image supérieure et des performances stables. L'appareil est facile à utiliser et dispose d'accessoires complets. ...

Grossissement: 50 unit - 500 unit
... de la qualité des pièces coulées, l'inspection des matières premières ou l'analyse métallographique après traitement, ainsi que pour la recherche de certains phénomènes de surface tels que la pulvérisation ...

Grossissement: 50 unit - 500 unit
... Le microscope métallographique informatisé TIME-40MW est un microscope métallographique trinoculaire vertical. Cet appareil offre d'excellentes performances d'imagerie et un confort d'utilisation élevé, ...

Grossissement: max 30.0 unit
... Elcometer 7210 est un microscope de poche extrêmement pratique pour les inspections sur chantier. Avec un grossissement x30 et une source de lumière intégrée, le microscope de poche ...

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