Système de test résistivité DXHCR1100

de processpour semiconducteurspour pile à combustible

Présentation du produit
Les instruments Dexinmag mesurent l'interaction thermoélectrique (effets Seebeck, Peltier, Thomson) en acquérant simultanément le coefficient Seebeck et la résistivité de la température ambiante (RT) jusqu'à 1500°C. Le thermopouvoir (coefficient Seebeck) s'exprime en V/K et dépend de la température. La plateforme DXHCR1100 prend en charge des atmosphères contrôlées et des géométries d'échantillons variées pour la R&D et le contrôle qualité.

Domaines d'application

• Développement de matériaux thermoélectriques : mesure du coefficient Seebeck et de la conductivité électrique pour semi‑conducteurs, skutterudites et autres matériaux TE ; calcul du ZT et évaluation haute température jusqu'à 1500°C ou en atmosphères contrôlées (vide/réductrice/oxydante).
• Caractérisation des matériaux électroniques et fonctionnels : études du transport électrique sur films minces semiconducteurs, polymères conducteurs et oxydes métalliques ; courbes résistance‑température de supraconducteurs HT et composites céramiques.
• Matériaux et dispositifs énergétiques : analyse de la résistivité et des caractéristiques d'interface pour électrodes Li‑ion et électrolytes solides ; test des performances conductrices de catalyseurs de piles à combustible en atmosphères variées.
• Contrôle industriel et optimisation des procédés : essais thermo‑électriques d'alliages, céramiques et matériaux carbonés pour piloter le frittage et les procédés de revêtement ; évaluation des matériaux résistant aux hautes températures et à la corrosion.
• Recherche académique et essais normalisés : plateforme adaptée aux universités, instituts de recherche et aux essais de certification selon des normes (ex. ASTM E1225).

Fonctions de test

• Logiciel de mesure intelligent intégré (Windows 10/11) pour excitation automatique, acquisition de données, traitement en temps réel et export des résultats.
• Édition de modèles et saisie minimale de paramètres pour des workflows de mesure reproductibles.
• Acquisition et analyse en temps réel, comparaison jusqu'à 32 courbes de mesure, soustraction et superposition de courbes.
• Outils d'analyse avancés : zoom sur courbes, dérivées première/deuxième, analyse multi‑pics et support de méthodes complémentaires (DSC, TG, TMA, DIL).
• Étalonnage multi‑point de température et routines d'enthalpie/flux thermique Cp ; import/export ASCII et export vers MS Excel.
• Contrôle séquencé des signaux et support d'expériences de longue durée.

Avantages produit

• Large plage de température et atmosphères contrôlées : RT à 800/1100/1500°C (options) ; compatible inerte, oxydante, réductrice et vide.
• Haute précision et modes de mesure intégrés : gamme Seebeck 1–2500 μV/K (±7% précision, ±3% répétabilité) ; conductivité électrique 0,01–2×10⁵ S/cm (±5–8% précision, ±3% reproductibilité). Méthodes : DC statique pour Seebeck, 4‑sondes pour la résistivité.
• Manipulation d'échantillons flexible : supporte cylindres (φ6 mm × 23 mm), prismes (2–5 mm largeur × 23 mm) et disques (10 / 12,7 / 25,4 mm) ; espacement des sondes réglable 4/6/8 mm et serrage en sandwich.
• Stabilité long terme et fonctionnement haute température : alimentation 0–1 A à sortie stable ; électrodes nickel (−100–500°C) ou platine (−100–1500°C) ; thermocouples K/S/C et contrôle PID en boucle fermée.

Spécifications produit

• Modèle : DXHCR1100
• Plage de température : RT à 800/1100/1500°C (configurable)
• Principes de mesure : Seebeck — DC statique ; Résistivité — 4‑sondes
• Atmosphères : inerte, oxydante, réductrice, vide
• Porte‑échantillon : serrage en sandwich entre deux électrodes
• Dimensions prises en charge : cylindre φ6×23 mm ; prisme 2–5 mm × 23 mm ; disques 10 / 12,7 / 25,4 mm
• Espacement sondes ajustable : 4 / 6 / 8 mm
• Gamme Seebeck : 1–2500 μV/K (±7% précision, ±3% répétabilité)
• Gamme conductivité électrique : 0,01–2×10⁵ S/cm (±5–8% précision, ±3% reproductibilité)
• Alimentation : 0–1 A (sortie stable)
• Matériau des électrodes : Nickel (−100 à 500°C) / Platine (−100 à +1500°C)
• Thermocouples : types K / S / C

Caractéristiques techniques

• Modèle : DXHCR1100
• Options température : RT–800/1100/1500°C
• Méthode Seebeck : DC statique
• Méthode résistivité : 4‑sondes
• Atmosphères compatibles : inerte, oxydante, réductrice, vide
• Espacement sondes : 4 / 6 / 8 mm
• Types d'échantillons : cylindres, prismes, disques (dimensions ci‑dessus)