Microscope à rayons X Phenom ParticleX TC
multiusagepour analyseindustriel

Microscope à rayons X - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - multiusage / pour analyse / industriel
Microscope à rayons X - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - multiusage / pour analyse / industriel
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Caractéristiques

Type
à rayons X
Applications
pour analyse, industriel, multiusage
Configuration
de bureau, compact
Source d'électrons
CeB6
Type de détecteur
d'électrons rétrodiffusés, d'électrons secondaires
Autres caractéristiques
automatisé, pour la topographie
Grossissement

Max: 200 000 unit

Min: 160 unit

Résolution spatiale

Max: 10 nm

Min: 0 nm

Poids

75 kg
(165,3 lb)

Largeur

316 mm
(12,4 in)

Hauteur

625 mm
(24,6 in)

Description

Rester propre dans un environnement industriel est plus facile à dire qu'à faire, en particulier dans les environnements de fabrication exigeants comme l'automobile. Comparé aux microscopes optiques traditionnels, notre Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM vous permet non seulement d'effectuer des analyses de composition plus détaillées à l'échelle microscopique, mais aussi de détecter et d'analyser de manière fiable les particules translucides, telles que le verre, qui échappent souvent aux autres systèmes. Mais ce qui distingue vraiment ce système compact, c'est le logiciel intégré Thermo Scientific Perception Automation Software, qui analyse et identifie automatiquement les particules dures comme le SiO2 ou le corindon, qui peuvent augmenter le taux d'usure de produits tels que les boîtes de vitesses. Le logiciel Perception fait ensuite correspondre la quantité et le type de particules trouvées aux spécifications de propreté pertinentes. Enfin, le Phenom ParticleX TC Desktop SEM fournit des rapports industriels concis qui transforment les données brutes en réponses claires et impartiales pour vous et votre équipe, vous permettant ainsi de vous conformer aux spécifications de qualité, y compris les normes allemandes VDA. Ce système est également équipé de notre spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDS) intégrée pour une analyse avancée de la composition. Vous pouvez également ajouter un détecteur d'électrons secondaires (SED) pour collecter des électrons de faible énergie provenant de la couche superficielle de l'échantillon, ce qui est idéal pour obtenir des informations détaillées sur la surface de l'échantillon. Répondre aux normes de qualité industrielle en toute confiance Ce système vous aide à répondre à la question permanente : Mon produit est-il suffisamment propre ? Par rapport à la microscopie optique, il améliore la qualité de l'imagerie et la portée de l'analyse des particules, ce qui vous permet de vous fier à vos résultats.

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VIDÉO

Catalogues

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.