Microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée DB500
pour analysepour la recherched'inspection

microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
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Caractéristiques

Type
électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
Applications
pour analyse, pour la recherche, d'inspection
Ergonomie
droit
Technique d'observation
à champ clair, in-situ, nanoscope
Configuration
au sol
Source de lumière
à illumination coaxiale
Source d'électrons
Schottky à émission de champ, filament de tungstène
Source d'ions
à gallium
Conception de lentille
avec correcteur d'aberration
Type de détecteur
in-lens SE, d'électrons rétrodiffusés, EBSD
Options et accessoires
assisté par ordinateur, USB
Autres caractéristiques
à caméra numérique, haute résolution, automatisé, d'observation, à balayage avec pression variable
Résolution spatiale

1,2 nm, 3 nm

Description

CIQTEK DB500 est un microscope électronique à balayage à émission de champ avec une colonne à faisceau d'ions focalisé pour l'analyse nanométrique et la préparation d'échantillons, qui est appliqué avec la technologie « SuperTunnel », une faible aberration et une conception d'objectif sans magnétique, avec basse tension et haute résolution. capacité qui garantit sa capacité analytique à l’échelle nanométrique. La colonne d'ions facilite une source d'ions de métal liquide Ga+ avec un faisceau d'ions très stable et de haute qualité pour garantir une capacité de nanofabrication. Le DB500 est équipé d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz, d'un mécanisme électrique anti-contamination pour l'objectif et de 24 ports d'extension, ce qui en fait une plate-forme complète de nano-analyse et de fabrication avec des configurations complètes et une extensibilité.

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