Microscope électronique à balayage à émission de champ Phenom Pharos G2
éducatifpour le contrôle qualitépour la recherche en matériaux

microscope électronique à balayage à émission de champ
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Caractéristiques

Type
électronique à balayage à émission de champ
Applications
éducatif, industriel, pour le contrôle qualité, pour la recherche en matériaux
Configuration
de table
Type de détecteur
d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffusés
Grossissement

2 000 000 unit

Résolution spatiale

2 nm, 3 nm, 10 nm

Description

Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ de table pour une imagerie de haute qualité dans toutes les disciplines. Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ Le Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM apporte le microscope électronique à balayage à émission de champ sur votre table. Le Phenom Pharos G2 FEG-SEM surpasse de nombreux MEB de table en termes de qualité d'image, tout en offrant une expérience utilisateur nettement meilleure. Pour les laboratoires universitaires et industriels qui, jusqu'à présent, ne considéraient pas le MEB comme une option réaliste, le Phenom Pharos G2 FEG-SEM rend les performances du MEB accessibles grâce à son format attrayant et à la courte formation requise. Le chargement ultra-rapide des échantillons signifie un échange rapide des échantillons, ce qui se traduit par une productivité accrue. Contrairement à d'autres MEB, qui finissent par afficher complet, le Phenom Pharos G2 FEG-SEM effectue des travaux d'imagerie et d'analyse si rapidement qu'il peut servir d'outil d'appoint. Le nouveau Phenom Pharos G2 FEG-SEM étend sa plage de tension d'accélération jusqu'à 1 kV, pour mieux s'adapter aux échantillons isolants et sensibles au faisceau, et jusqu'à 20 kV, avec une résolution de 2,0 nm qui révèle les détails les plus fins. Source d'émission de champ unique Unique parmi les MEB de bureau, le Phenom Pharos G2 FEG-SEM offre une source d'émission de champ qui garantit une grande luminosité, des images nettes et un courant de faisceau stable. Excellent pouvoir de résolution Le Phenom Pharos G2 FEG-SEM offre une résolution de 2,0 nm à 20 kV. Cette performance permet de mettre en évidence la forme des nanoparticules, les imperfections des revêtements ou d'autres caractéristiques qui échapperaient aux MEB à tungstène ou à d'autres MEB de table.

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VIDÉO

Catalogues

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.