Microscope SEM TM4000 series

pour analysede mesurepar contraste des numéros atomiques

La série TM4000 se caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi (TM) intègre la facilité d'utilisation, l'imagerie optimisée et la haute qualité d'image, tout en conservant le design compact des produits de la série TM d'Hitachi. Découvrez la nouvelle dimension des microscopes de table avec le TM4000 II et le TM4000Plus II d'Hitachi. Fonctionnement intuitif sur Camera Navi * L'utilisation d'images optiques permet de naviguer facilement vers la zone d'observation cible. Les images SEM obtenues peuvent être superposées sur une image SEM MAP. Créateur de rapports Il suffit de sélectionner des images et un modèle pour créer des rapports personnalisés. Les rapports créés peuvent être enregistrés/édités dans les formats Microsoft Office®. Mode de réduction de la charge La charge d'un échantillon peut être réduite en un seul clic. Image d'une variété de matériaux dans des conditions de vide faible Les images montrent l'observation d'échantillons non-conducteurs tels que des particules de toner d'encre et la surface d'une feuille hydratée. Détecteur innovant à sélection secondaire permettant d'obtenir des détails de surface sur des échantillons non conducteurs dans des conditions de vide réduit Le TM4000Plus II peut observer non seulement des échantillons conducteurs, mais aussi des échantillons non conducteurs ou hydratés sans préparation de l'échantillon. La commutation entre BSE et SE peut être effectuée facilement. Détecteur de SE sous faible vide à haute sensibilité (UVD) L'UVD d'Hitachi génère des images d'électrons secondaires en détectant la lumière visible excitée par les interactions électron-gaz. Avantages de la tension d'accélération de 20 kV La tension d'accélération élevée permet une analyse EDS plus rapide. Données de cartographie EDS à 20 kV en 2 min