video corpo

Microscope SEM TM4000 series
pour analysede mesurepar contraste des numéros atomiques

microscope SEM
microscope SEM
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
 

Caractéristiques

Type
SEM
Applications
pour analyse, de mesure
Technique d'observation
par contraste des numéros atomiques, par topographie
Configuration
de paillasse, compact
Type de détecteur
d'électrons rétrodiffusés, d'électrons secondaires
Autres caractéristiques
simple d'installation, à caméra numérique, haute résolution, automatisé, de traitement d'images, économique, motorisé, pour les sciences de la Terre, pour nanotechnologie, pour utilisation dans de l'air ou du liquide, pour la topographie, avec fonction de profilométrie, à balayage avec pression variable, pour intégration sur microscope et profilomètre, pour identification d'amiante, pour échantillon plat, à fort contraste, pour échantillons polis, à fort grossissement
Grossissement

Max: 25 000 054 unit

Min: 10 unit

Poids

54 kg (119 lb)

Longueur

614 mm, 617 mm (24,2 in)

Largeur

330 mm (13 in)

Hauteur

547 mm (21,5 in)

Description

La série TM4000 se caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi (TM) intègre la facilité d'utilisation, l'imagerie optimisée et la haute qualité d'image, tout en conservant le design compact des produits de la série TM d'Hitachi. Découvrez la nouvelle dimension des microscopes de table avec le TM4000 II et le TM4000Plus II d'Hitachi. Fonctionnement intuitif sur Camera Navi * L'utilisation d'images optiques permet de naviguer facilement vers la zone d'observation cible. Les images SEM obtenues peuvent être superposées sur une image SEM MAP. Créateur de rapports Il suffit de sélectionner des images et un modèle pour créer des rapports personnalisés. Les rapports créés peuvent être enregistrés/édités dans les formats Microsoft Office®. Mode de réduction de la charge La charge d'un échantillon peut être réduite en un seul clic. Image d'une variété de matériaux dans des conditions de vide faible Les images montrent l'observation d'échantillons non-conducteurs tels que des particules de toner d'encre et la surface d'une feuille hydratée. Détecteur innovant à sélection secondaire permettant d'obtenir des détails de surface sur des échantillons non conducteurs dans des conditions de vide réduit Le TM4000Plus II peut observer non seulement des échantillons conducteurs, mais aussi des échantillons non conducteurs ou hydratés sans préparation de l'échantillon. La commutation entre BSE et SE peut être effectuée facilement. Détecteur de SE sous faible vide à haute sensibilité (UVD) L'UVD d'Hitachi génère des images d'électrons secondaires en détectant la lumière visible excitée par les interactions électron-gaz. Avantages de la tension d'accélération de 20 kV La tension d'accélération élevée permet une analyse EDS plus rapide. Données de cartographie EDS à 20 kV en 2 min

---

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.