Microscope SEM TM4000PlusIII

de mesurepour analysepar topographie

Conçu comme une extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps record avec une bonne résolution, une bonne profondeur de champ et un bon contraste entre les différents matériaux. Le tout sans préparation fastidieuse (sans revêtement). Si nécessaire, vous pouvez également déterminer la composition chimique et la distribution des éléments. La navigation sur la platine motorisée X,Y de l'échantillon est facilitée par une vue d'ensemble de la photo couleur générée automatiquement et zoomable. Cet aperçu peut être complété localement par des instantanés de photos MEB. Caractéristiques du produit : - L'EDX avec un capteur de 30 mm2 ou 60 mm2 peut être entièrement intégré, commutation immédiate entre l'observation et l'analyse des éléments - 4 tensions d'accélération 5 | 10 | 15 | 20kV avec 5 modes de courant de sonde chacun - Caméra de navigation optique couleur - 3 étages de pression de chambre - détecteur d'électrons rétrodiffusés à 4 segments - Lecture du courant de la sonde et fonctionnalité IFT