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Microscope électronique à balayage SU series
multiusagepour analysepour le contrôle qualité

microscope électronique à balayage
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Caractéristiques

Type
électronique à balayage
Applications
pour mesure de rugosité de surface, pour analyse, pour la recherche, pour composants électroniques, pour inspection de surface, pour inspection de matériau, industriel, métallurgique, pour le contrôle qualité, pour la recherche en matériaux, pour l'industrie pharmaceutique, multiusage, pour céramique
Configuration
au sol
Type de détecteur
d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffusés
Autres caractéristiques
pour semi-conducteur, haute résolution, automatisé, à balayage avec pression variable, pour échantillon plat, pour échantillons polis, pour la topographie, pour nanotechnologie, pour identification d'amiante, pour les sciences de la Terre, pour applications en micro-imagerie
Grossissement

Max: 800 000 unit

Min: 5 unit

Résolution spatiale

3 nm, 4 nm, 15 nm

Description

Performance et puissance dans une plate-forme flexible Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations et utiliser efficacement leurs hautes performances. Le SU3900 est équipé d'une grande chambre à échantillons polyvalente pour permettre l'observation d'échantillons de grande taille. 1.La chambre d'échantillons considérablement plus grande permet d'observer des échantillons lourds et surdimensionnés ■Scène robuste pour la flexibilité de la taille, de la forme et du poids des échantillons - La séquence d'échange des échantillons permet d'éviter d'endommager le système ou l'échantillon. - Échangez les échantillons sans purger la chambre d'échantillons, ce qui améliore le rendement. - Améliorez la manipulation des échantillons grâce au mode "Stage Free "*. - Le Chamber Scope améliore la sécurité des mouvements de la platine*. ■Accroissement de la zone de visualisation - SEM MAP repousse les limites de la navigation dans les échantillons - Affichage intégré de la caméra dans la chambre - Navigation aisée dans l'ensemble de la zone observable - Rotation orientée vers le détecteur 2.Évolution du marché - Fonctions automatiques améliorées pour les opérateurs de tout niveau de compétence ■Multiples modes de fonctionnement ■ Fonctions automatiques pour les opérateurs de tout niveau de compétence Algorithmes automatiques améliorés - 3 fois plus rapides (par rapport au modèle Hitachi S-3700N) Fonction de mise au point automatique améliorée Caractéristiques de notre technologie exclusive Intelligent Filament Technology (IFT) : ■Multi Zigzag permet d'observer des zones étendues sur plusieurs zones. ■Report Creator génère des rapports sur les données acquises. 3.Solutions intégrées pour diverses applications ■Une variété d'accessoires pouvant être montés sur n'importe lequel des 20 ports de la chambre à échantillons innovante SU3900. ■SEM/EDS Integration System* (Système d'intégration SEM/EDS)

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