Microscope électronique à balayage à émission de champ SU7000

pour analysein-situBF-STEM

Le FE-SEM moderne exige non seulement des performances élevées, mais aussi une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation de zones étendues, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie à haute résolution à de faibles tensions d'accélération et la collecte simultanée de signaux multiples. Le SU7000 est conçu pour répondre à ces aspects et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! Capacité d'imagerie polyvalente Le SU7000 excelle dans l'acquisition rapide de signaux multiples pour répondre aux besoins étendus de la microscopie électronique, de l'imagerie d'un large champ de vision à la visualisation de structures sub-nanométriques et tout ce qui se trouve entre les deux. L'incorporation de systèmes de détection et d'optique électronique de conception nouvelle permet une acquisition simultanée efficace de plusieurs signaux d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés. Imagerie multicanaux Le nombre de détecteurs montés sur le MEB ne cesse d'augmenter, de même que la nécessité d'afficher efficacement toutes les informations recueillies. Le SU7000 est capable de traiter, d'afficher et de sauvegarder jusqu'à 6 signaux simultanément pour maximiser l'acquisition d'informations. Grande variété de techniques d'observation La chambre à échantillon et le système de vide sont optimisés pour : - les échantillons de grande taille - Manipulation de l'échantillon sur plusieurs axes - Conditions de pression variables - Conditions cryogéniques - L'observation in situ du chauffage et du refroidissement