Microscopes de mesure Bruker

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microscope à force atomique
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Dimension Icon®

... fois. Polyvalent plateforme en libre accès S'adapte à la plus grande variété d'expériences, de modes, de techniques et de mesures semi-automatiques. Performance et résolution maximales La résolution supérieure de Dimension ...

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Bruker Nano Surfaces
microscope AFM
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NanoWizard V

... faire progresser considérablement notre compréhension des processus cellulaires dynamiques et des mécanismes moléculaires. Son mode PeakForce-QI permet d'effectuer des mesures nanomécaniques quantitatives ...

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microscope à balayage de sonde
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Dimension XR

Résolution spatiale: 0 nm - 100 nm

... Systèmes de recherche extrême pour la nanomécanique, la nanoélectricité et la nanoélectrochimie Les systèmes de microscope à sonde à balayage (SPM) Dimension XR de Bruker intègrent des décennies de recherche et d'innovation ...

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microscope AFM
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Dimension FastScan

... moment, quelle que soit la taille de l'échantillon. dynamique à l'échelle nanométrique Fournit une vitesse de balayage de pointe et une stabilité ultimes pour la visualisation directe du comportement dynamique ...

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microscope à force atomique
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Dimension Edge

... de chaque installation et utilisateur. microscope et électronique Offre une haute fidélité d'image et une flexibilité de recherche à un coût modéré. Intégration de accès au routage des signaux Permet des mesures ...

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microscope AFM
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Innova

... Le microscope à force atomique (AFM) compact Innova® offre une flexibilité d'application pour la recherche scientifique la plus exigeante à un coût modéré. Son système unique de linéarisation du balayage en boucle fermée ...

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Bruker Nano Surfaces
microscope à force atomique
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Icon-Raman

... exclusives à Bruker, les chercheurs sont en mesure de mieux comprendre les mécanismes qui conduisent à des propriétés matérielles spécifiques. Corrélation entre Données AFM et u-Raman corrélées Permet des mesures ...

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microscope à force atomique
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Dimension FastScan Pro

... industriels disponibles aujourd'hui. Le système permet des mesures automatisées ou semi-automatisées tout en garantissant la plus grande facilité d'utilisation et le plus faible coût par mesure pour le ...

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microscope AFM
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Dimension HPI

... à haut volume, le système Dimension HPI permet d'automatiser les mesures de nombreux modes AFM tout en garantissant la plus grande facilité d'utilisation et le plus faible coût par mesure pour le contrôle ...

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Bruker Nano Surfaces
microscope à force atomique
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Dimension Edge PSS

... en offrant une solution basée sur la production pour les mesures de substrat. Nanomètre résolution Analyse chaque paramètre critique pour les substrats PSS. <0,2nm bruit de fond Permet de mesurer la ...

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