Microscope SEM Phenom ParticleX AM
pour analysede mesurepour le contrôle qualité

Microscope SEM - Phenom ParticleX AM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - pour analyse / de mesure / pour le contrôle qualité
Microscope SEM - Phenom ParticleX AM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - pour analyse / de mesure / pour le contrôle qualité
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Caractéristiques

Type
SEM
Applications
pour analyse, de mesure, pour le contrôle qualité, pour la recherche en matériaux
Configuration
de bureau
Source d'électrons
CeB6
Type de détecteur
d'électrons secondaires
Autres caractéristiques
motorisé
Grossissement

Max: 200 000 unit

Min: 160 unit

Résolution spatiale

Max: 16 nm

10 nm

Min: 0 nm

Description

Si vous souhaitez améliorer la qualité et la précision de vos essais sur les poudres additives, avec une analyse plus détaillée et des mesures de taille précises, le Thermo Scientific Phenom ParticleX AM Desktop SEM peut vous aider. Pour les procédés de fabrication additive (AM) sur lit de poudre et alimentés en poudre, il peut vous aider à analyser les caractéristiques critiques des poudres métalliques à l'échelle microscopique. De plus, il vous permet de travailler avec jusqu'à 49 échantillons simultanément. Mais ce qui distingue vraiment ce système, c'est le logiciel intégré Thermo Scientific Perception Software, qui détecte et identifie automatiquement les débris, les particules sphériques ou allongées et d'autres particules, prouvant ainsi la qualité de la poudre. Il fournit ensuite des rapports industriels concis qui transforment les données brutes en réponses claires et impartiales pour vous et votre équipe. Le MEB de bureau Phenom ParticleX AM est équipé d'une spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie (EDS) intégrée pour une analyse avancée de la composition. Vous pouvez également ajouter un détecteur d'électrons secondaires (SED), qui collecte les électrons de faible énergie de la couche superficielle de l'échantillon pour fournir des informations détaillées sur la surface. vue d'ensemble Respecter les normes de qualité industrielle en toute confiance Avec le MEB de bureau Phenom ParticleX AM, vous pouvez analyser la composition et la taille des particules ainsi que les paramètres de forme (diamètre, périmètre, rapport d'aspect, rugosité et diamètre de Feret), le tout à l'échelle microscopique et avec une précision bien supérieure à celle des autres technologies. Un débit inégalé dans l'industrie Le Phenom ParticleX AM Desktop SEM offre un débit rapide, ce qui vous permet d'en faire plus avec le microscope et d'augmenter la durée du cycle de production.

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VIDÉO

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.