Microscope SEM MAGNA

de métrologiede paillassehaute résolution

UHR SEM pour la caractérisation des nanomatériaux à l'échelle sub-nanométrique - Imagerie à haute résolution et à fort contraste des matériaux de la prochaine génération (par exemple, structures de catalyseurs, nanotubes, nanoparticules et autres structures à l'échelle nanométrique) - Excellente plate-forme adaptée à la métrologie MEB/MST à l'échelle sub-nanométrique - Mise en place rapide du faisceau d'électrons - des conditions d'imagerie optimales sont garanties par le faisceau en vol Tracing™ - Système multi-détecteur TriBE™ et TriSE™ pour la nanocaractérisation des échantillons - Plate-forme logicielle modulaire intuitive conçue pour un fonctionnement sans effort, quel que soit le niveau de compétence des utilisateurs