Microscope à force atomique LensAFM

pour analysede mesurepour mesure de rugosité de surface

Augmentez la résolution de votre microscope optique Le Nanosurf LensAFM est un microscope à force atomique qui continue là où les microscopes optiques et les profilomètres atteignent leurs limites de résolution. Il est monté comme un objectif normal, augmentant ainsi la résolution et les capacités de mesure de ces instruments. Le LensAFM fournit non seulement des informations topographiques de surface en 3D, mais peut également être utilisé pour analyser diverses propriétés physiques d'un échantillon de mesure. Effectuez des mesures AFM avec l'instrument auquel vous êtes habitué Dans un nombre toujours croissant de situations, les chercheurs veulent combiner les techniques de microscopie optique et à force atomique. La facilité d'utilisation, la capacité de criblage et le (manque de) préparation des échantillons des microscopes optiques sont presque inégalés. Cependant, parfois un objectif 100x n'est pas suffisant et vous aimeriez voir de plus près quelques petites caractéristiques qui vont au-delà de la résolution de l'instrument. Dans un environnement de laboratoire normal, vous auriez besoin de deux instruments dédiés et il serait nécessaire de transférer l'échantillon d'un appareil à l'autre. Ce n'est pas le cas avec le LensAFM. Grâce à sa conception exceptionnellement petite et à son mécanisme de montage astucieux, tout ce que vous avez à faire est de faire tourner la tourelle de votre microscope optique ou profilomètre et d'effectuer le balayage.