Vue d'ensembleL'équerre maîtresse céramique d'Innovacera est un étalon de métrologie conçu pour établir des plans de référence droits et à 90° pour les opérations d'inspection et d'alignement. Elle sert à contrôler la rectitude des axes de mouvement, l'équerrage entre axes et la perpendicularité entre surfaces adjacentes des pièces.
Construction et matériauxFabriquée en alumine de haute pureté (Al2O3) ou en carbure de silicium (SiC), l'équerre est usinée de précision, rectifiée et contrôlée géométriquement pour obtenir une rectitude et un équerrage au niveau du micron sur ses faces de mesure. La structure légère à quatre fenêtres réduit la déformation due au poids propre tout en conservant une rigidité élevée, facilitant l'installation, l'inversion et les mesures comparatives en différentes orientations.
UtilisationL'équerre maîtresse céramique n'affiche pas de valeurs de mesure en elle-même. Elle est utilisée avec des capteurs de déplacement (comparateur électronique, comparateur à cadran, sonde inductive, sonde à jauge d'air, sonde CMM). Applications typiques : installation, réglage et contrôles périodiques de l'exactitude géométrique de machines-outils de précision, bras de mesure (CMM), équipement pour semi-conducteurs et plates-formes d'inspection automatisées.
Caractéristiques produit- Précision géométrique au niveau du micron
- Structure légère à quatre fenêtres et grande rigidité
- Excellente résistance à l'usure
- Résistant à la corrosion et à la rouille
- Conception non magnétique
- Bonne stabilité dimensionnelle
- Fabrication sur mesure disponible
Spécifications :
Modèle | Dimensions (L × H × W) | Rectitude | Équerrage | Poids
INV202050-SG | 200 × 200 × 50 mm | < 1.5 µm | < 1.5 µm | 3.5 kg
INV353550-SG | 350 × 350 × 50 mm | < 1.5 µm | < 1.5 µm | 8.1 kg
INV404050-SG | 400 × 400 × 50 mm | < 1.5 µm | < 1.5 µm | 11 kg
INV454550-SG | 450 × 450 × 50 mm | < 2 µm | < 2 µm | 12.5 kg
INV505055-SG | 500 × 500 × 55 mm | < 2 µm | < 2 µm | —
Dimension personnalisée | Jusqu'à 1000 × 400 × 50 mm | < 2 µm | < 2 µm | Selon conception
Applications principales- Contrôle de l'exactitude géométrique des machines-outils de précision
- Machines de mesure dimensionnelle (CMM) et équipements métrologiques
- Équipements pour semi-conducteurs et automatisation de précision
- Inspection de pièces et gabarits de précision
Méthodes de mesure typiquesMesure comparativePositionnez l'équerre maîtresse céramique sur une table de référence et déplacez la sonde le long de la face de mesure. En enregistrant les variations de l'indicateur aux différentes positions, on évalue la rectitude d'un axe ou d'une surface ainsi que l'écart angulaire.
Mesure par inversionChanger l'orientation de montage ou faire pivoter l'équerre de 180° permet de séparer l'erreur intrinsèque de l'équerre de l'erreur de mouvement de l'équipement, améliorant la fiabilité de l'analyse des erreurs géométriques.
Inspection de l'équerrage multi-axesUne face de mesure sert de référence tandis qu'une face adjacente établit la référence à 90° pour vérifier l'équerrage entre deux axes de mouvement.
Caractéristiques techniques / spécifications :
- Matériaux : alumine haute pureté (Al2O3) ou carbure de silicium (SiC)
- Précision géométrique : rectitude et équerrage au niveau du micron (selon modèle : typ. <1.5 µm à <2 µm)
- Tailles standard : 200×200×50 mm à 500×500×55 mm ; sur mesure jusqu'à 1000×400×50 mm
- Structure légère à quatre fenêtres pour réduire la déformation due au poids propre
- Haute rigidité structurelle et résistance à l'usure
- Non magnétique, résistant à la corrosion et à la rouille
- Utilisation prévue avec capteurs de déplacement (comparateur électronique, comparateur à cadran, sonde inductive, jauge d'air, sonde CMM)
- Codes modèles typiques : INV202050-SG, INV353550-SG, INV404050-SG, INV454550-SG, INV505055-SG