FIB-SEM polyvalent pour un rendement élevé avec une automatisation avancée
Le Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM est un microscope électronique à balayage à faisceau d'ions (FIB-SEM) avancé, à très haute résolution, axé sur l'analyse. Il excelle dans la préparation d'échantillons et la caractérisation 3D d'une large gamme d'échantillons, y compris les matériaux magnétiques et non conducteurs. Conçu avec des caractéristiques innovantes pour améliorer le débit, la fiabilité et la facilité d'utilisation, le Scios 3 FIB-SEM est une solution idéale pour les scientifiques et les ingénieurs qui effectuent des recherches et des analyses avancées dans divers environnements.
Associé à une suite complète d'applications logicielles automatisées, le Scios 3 FIB-SEM est conçu pour faciliter les cas d'utilisation les plus courants. Cette solution conviviale et innovante augmente considérablement la productivité, ce qui la rend précieuse pour les utilisateurs dans l'industrie et le monde universitaire.
caractéristiques
Analyse automatisée des coupes transversales
Le Scios 3 FIB-SEM offre une application automatisée pour l'analyse des coupes transversales, permettant une caractérisation de haute qualité de la subsurface avec un ciblage précis. Il rationalise les flux de travail, réduit l'intervention de l'utilisateur et garantit des résultats cohérents et de haute qualité dans des environnements à haut débit.
Caractérisation analytique 3D à haut débit
Le logiciel Thermo Scientific Auto Slice & View 5 pour le Scios 3 FIB-SEM permet de réaliser des coupes sérielles automatisées pour une analyse 3D à haut débit. L'intégration transparente permet la collecte de données multimodales, y compris l'imagerie MEB, les informations sur la composition, la microstructure et la cristallographie.
Préparation d'échantillons (S)TEM automatisée, de haute qualité et spécifique au site
Le Scios 3 FIB-SEM permet de préparer rapidement et facilement des échantillons (S)TEM de haute qualité et spécifiques au site.
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