Microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée Scios 2

pour analysepour le contrôle qualitépour la recherche

Microscope électronique à balayage à faisceau ionique focalisé pour la préparation d'échantillons de haute qualité à ultra-haute résolution et la caractérisation 3D. Le Thermo Scientific Scios 2 DualBeam est un système de microscopie électronique à balayage à faisceau ionique focalisé (FIB-SEM) analytique à ultra-haute résolution qui offre des performances exceptionnelles en matière de préparation d'échantillons et de caractérisation 3D pour une large gamme d'échantillons, y compris les matériaux magnétiques et non conducteurs. Avec ses caractéristiques innovantes conçues pour augmenter le débit, la précision et la facilité d'utilisation, le Scios 2 DualBeam est une solution idéale pour répondre aux besoins des scientifiques et des ingénieurs en matière de recherche et d'analyse avancées dans les environnements de recherche universitaires, gouvernementaux et industriels. Caractérisation de la subsurface La caractérisation de la subsurface ou tridimensionnelle est souvent nécessaire pour mieux comprendre la structure et les propriétés d'un échantillon. Le Scios 2 DualBeam, avec le logiciel optionnel Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4), permet une acquisition entièrement automatisée et de haute qualité d'ensembles de données 3D multimodaux, notamment l'imagerie par électrons rétrodiffusés (BSE) pour un contraste maximal des matériaux, la spectroscopie dispersive en énergie (EDS) pour des informations sur la composition et la diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) pour des informations microstructurales et cristallographiques. Associé au logiciel Thermo Scientific Avizo, le Scios 2 DualBeam offre une solution de flux de travail unique pour la caractérisation et l'analyse 3D avancée à haute résolution à l'échelle nanométrique. Imagerie par électrons rétrodiffusés et électrons secondaires La colonne d'électrons NICol innovante constitue la base des capacités d'imagerie et de détection haute résolution du système.