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... comme l'intégration des procédés, le contrôle des procédés, le tri des puces en production (par exemple, test d'acceptation des wafers ou test des puces reconnues fiables) et la fiabilité. Les systèmes ...
... un équipement de test automatique (ATE) de nouvelle génération conçu pour le contrôle à haut débit des semi‑conducteurs de puissance (Si, SiC, GaN). Adapté à l'intégration en salle blanche, il se déploie ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... encombrement minimal.
Cosmic Equipment S.p.A.
... Présentation du produit
HATINA GP est une plateforme ATE (
système de
test automatisé) destinée à la caractérisation et aux tests de production à haut parallèle des Smart Power IC et SoC. Le
système ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... Aperçu du produit
La série PST6747Ai est un
système de
test de
semi‑conducteurs destiné à la mesure et à l'analyse précises des paramètres statiques des composants de puissance. Elle prend en ...
... architecture modulaire, option
contrôle de température, sauvegarde des données et export Excel.
Composition du système / Récapitulatif de configuration
- Électroaimant DXSBV-100 (champ
... échantillon standard, un Dewar à haute et basse température, un régulateur de température et un logiciel de système. Matériaux testables : - Matériaux semi-conducteurs : SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, ...
... variées pour la R&D et le
contrôle qualité.
Domaines d'application
- Développement de matériaux thermoélectriques : mesure du coefficient Seebeck et de la conductivité électrique pour semi‑conducteurs,
... l'essai classique (demi-onde sinusoïdale, trapézoïdale, en dents de scie) du spectre de réponse aux impulsions et aux chocs. Testeur de vibrations à haute fréquence largement utilisé dans la défense nationale, les armes, l'aviation, l'aérospatiale, ...
... unité de commande de driver, d'une unité de protection et des instruments de test associés. Le système utilise un logiciel de test développé en interne pour fournir une plateforme stable et précise pour ...
... Caractéristiques du système : - Kit de test IPM basé sur le STS8200 - Spécification de test : 2000V/100A DC, 200A Dynamic AC - Prise en charge du test des paramètres statiques et ...
... PMST Power Device Analyzer Static Test System for MOSFET BJT IGBT and SiC GaN Semiconductors ( Système de test statique pour MOSFET BJT IGBT et semi-conducteurs SiC GaN) Le ...
Wuhan Precise Instrument Co.,Ltd
... Le IP750Ex-HD offre des capacités de test de capteurs d'image pour les appareils actuels et futurs tout en garantissant le coût de test le plus bas. - Système de test avancé pour capteurs ...
Teradyne
... Présentation
Le
système de
test de précision modulaire MP5000 de Tektronix est conçu pour évoluer. Combinez les modules SMU et PSU dès aujourd'hui, et développez votre
système demain. Grâce ...
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