Système de test pour cycle de chaleur SM-ZOV665-W5K

de sécurité fonctionnellede vieillissementde performance

Système de test SANWOOD à porte unique pour le rodage dynamique des circuits intégrés et les essais HTOL Le SANWOOD SM-ZOV665-W5K combine une chambre à température contrôlée avec des séquences de test électriques programmables pour le rodage dynamique et les essais de durée de vie à haute température (HTOL). Il met à l'épreuve des circuits intégrés sous tension sur des cartes de rodage (BIB) à des températures élevées, permettant ainsi aux ingénieurs de surveiller le comportement des composants soumis à des contraintes thermiques et électriques. Caractéristiques principales Vecteurs de test programmables pour tester la logique et la mémoire des circuits intégrés pendant le rodage Isolation électrique au niveau des emplacements et limites de courant programmables Enregistrement de la tension, du courant et de la température par emplacement pour l’analyse des défaillances Spécifications techniques Modèle — SM-ZOV665-W5K, configuration à porte unique Plage de température de la chambre — De la température ambiante à 10 °C à 150 °C Capacité en cartes de rodage — 16 emplacements Dimensions des cartes de rodage — 450 × 570 mm Canaux de signal — 184 au total, dont 160 canaux de pilotage communs et 24 canaux d’E/S Fréquence de répétition maximale du système — 20 MHz Mémoire vectorielle — 64 millions de mots Capacité du journal des erreurs — 2 000 par E/S Alimentation des dispositifs — 8 canaux par BIB dans la configuration par défaut Dimensions internes (L × H × P) — 800 × 1 320 × 630 mm Dimensions externes (L × H × P) — 1 920 × 2 287 × 1 600 mm Personnalisation Les dimensions intérieures de la chambre et les configurations des racks de test peuvent être personnalisées pour s’adapter aux dimensions de vos BIB, à l’espacement des cartes et à vos exigences de chargement. Applications et références de test Convient au criblage par burn-in et à l’évaluation de la durée de vie en service des SoC automobiles, des microcontrôleurs, des accélérateurs d’IA, des circuits intégrés de mémoire et des circuits intégrés de gestion de l’alimentation. En fonction du dispositif et du plan de test, les références pertinentes incluent la norme JEDEC JESD22-A108 pour le test HTOL, le test AEC-Q100 B1 pour le test HTOL des circuits intégrés automobiles, et la norme MIL-STD-883, méthode 1015, pour le rodage des microcircuits. Pour obtenir une proposition de configuration, veuillez nous communiquer le type de votre dispositif, les schémas BIB, la charge électrique et le profil de test requis. Page produit — https://www.sanwood.us/products/189.html E-mail — [email protected]