Système de test pour cycle de chaleur SM-ZOV665-W5(10)K

de sécurité fonctionnellede vieillissementde performance

Système de test SANWOOD à double porte pour le burn-in dynamique et les essais HTOL des circuits intégrés Le SANWOOD SM-ZOV665-W5(10)K combine deux chambres chauffées avec des séquences de test électriques programmables pour la réalisation en parallèle d’essais de burn-in dynamique et d’essais de durée de vie à haute température (HTOL). Chaque chambre peut accueillir 16 cartes de rodage (BIB) montées horizontalement, pour un total de 32 emplacements de cartes. Caractéristiques principales Des vecteurs de test programmables font fonctionner les circuits intégrés sous tension à des températures élevées. L’isolation au niveau des emplacements et la protection contre les surintensités contribuent à circonscrire les défauts lors des essais en parallèle. La circulation d’air horizontale à travers les racks de cartes favorise la dissipation de la chaleur sous les charges alimentées. Caractéristiques techniques Modèle — SM-ZOV665-W5(10)K, configuration à double porte Plage de température de la chambre — De la température ambiante à +10 °C à +150 °C Capacité en BIB — 32 emplacements au total, 16 par chambre Dimensions des BIB — 450 × 570 mm Canaux de signal — 184 au total, dont 160 canaux de pilotage communs et 24 canaux d’E/S Fréquence de répétition maximale du système — 20 MHz Mémoire vectorielle — 64 millions de mots Capacité du journal des erreurs — 2 Ko par E/S Alimentation des dispositifs — 8 canaux par BIB dans la configuration par défaut Dimensions internes par chambre (L × H × P) — 800 × 1 320 × 630 mm Dimensions hors tout (L × H × P) — 3 160 × 2 470 × 1 600 mm Personnalisation Les dimensions intérieures des chambres et les configurations des racks de test peuvent être personnalisées pour s'adapter à la taille de vos cartes, à l'espacement entre celles-ci et à vos exigences de chargement. Applications et références de test Conçu pour les tests de fiabilité en parallèle des SoC automobiles, des microcontrôleurs, des accélérateurs d’IA, des circuits intégrés de mémoire et des circuits intégrés de gestion de l’alimentation. En fonction du dispositif et du plan de test, les références pertinentes incluent la norme JEDEC JESD22-A108 pour le test HTOL, le test AEC-Q100 B1 pour le test HTOL des circuits intégrés automobiles et la norme MIL-STD-883, méthode 1015, pour le burn-in des microcircuits. Pour obtenir une proposition de configuration, veuillez nous communiquer le type de votre dispositif, les schémas BIB, le débit cible, la charge thermique sous tension et le profil de test. Page produit — https://www.sanwood.us/products/188.html E-mail — [email protected]