Système de test pour laboratoire MX710D SiC

pour semiconducteurssur sitede précision

Présentation du produit
La série MX710D est un système de test dynamique en laboratoire pour SiC, composé d'une alimentation CC programmable haute précision, d'une unité de montage (fixure), d'une unité de mesure et de contrôle, d'une unité de commande de driver, d'une unité de protection et des instruments de test associés. Le système utilise un logiciel de test développé en interne pour fournir une plateforme stable et précise pour les essais des paramètres dynamiques des dispositifs SiC, incluant les caractéristiques d'enclenchement, de coupure, la récupération inverse de la diode et les caractéristiques de court-circuit.

Caractéristiques

• Conçu pour des applications en laboratoire avec des fonctions de test complètes ; prend en charge les tests mono-impulsion, double-impulsion et court-circuit ;
• Équipé d'une protection contre les surintensités permettant d'ouvrir rapidement la boucle de courant en cas de défaillance du dispositif ;
• Inductance parasite très faible grâce à une conception compacte pour répondre aux tests de commutation haute vitesse des SiC ;
• Grande compatibilité : configuration adaptable à différents dispositifs, modules et circuits via des équipements et montages de test adaptés ;
• Interface homme-machine conviviale pour une exploitation simple.

Interface produit / Images
(La page fournit plusieurs emplacements pour images de démonstration ; la page réelle présente des schémas du produit et des captures d'écran de l'interface)

Champ d'application
Convient aux laboratoires de test des caractéristiques dynamiques des dispositifs en carbure de silicium (SiC), pour la vérification des paramètres et la R&D.

Caractéristiques / Spécifications techniques (résumé)

• Modèle : série MX710D ;
• Dispositifs applicables : dispositifs de puissance SiC (carbure de silicium) ;
• Composition du système : alimentation CC programmable, unité de montage, unité de mesure et de contrôle, unité de commande driver, unité de protection et instruments de test associés ;
• Types de tests pris en charge : enclenchement, coupure, récupération inverse de la diode, court-circuit ; prise en charge des tests mono- et double-impulsion ;
• Protection : protection contre les surintensités avec coupure rapide de la boucle ;
• Conception : faible inductance parasite pour répondre aux essais de commutation haute vitesse des dispositifs SiC ;
• Logiciel : logiciel de test système développé en interne et interface HMI.