Système de test de laboratoire IP750Ex-HD

pour l'industrie électroniquepour semiconducteurspour module de caméra

Le IP750Ex-HD offre des capacités de test de capteurs d'image pour les appareils actuels et futurs tout en garantissant le coût de test le plus bas. - Système de test avancé pour capteurs d'image conçu pour les appareils actuels et de nouvelle génération. - Optimisé pour un débit élevé et un faible coût de test. - Prend en charge une large gamme de technologies et de configurations de capteurs d'image. - Architecture flexible pour s'adapter aux exigences évolutives des appareils. - Conçu pour la fiabilité et l'évolutivité dans les environnements de production. Avantages et Configurations: - Électronique à haute densité de broches pour les tests parallèles. - Ressources de test configurables pour répondre aux besoins des appareils. - Outils logiciels complets pour le développement de tests et l'analyse des données. - Intégration transparente avec les systèmes de manutention automatisés. Applications Typiques: - Test des capteurs d'image CMOS et CCD. - Assurance qualité pour les dispositifs d'imagerie automobile, mobile et industrielle. - Environnements de test de production et d'ingénierie. Caractéristiques Clés: - Haut parallélisme pour un débit accru. - Faible coût de possession et d'exploitation. - Plateforme pérenne supportant les nouvelles technologies de capteurs. Spécifications Techniques / Caractéristiques: - Électronique à haute densité de broches - Ressources de test configurables - Suite logicielle complète - Intégration avec l'automatisation - Support pour capteurs CMOS et CCD - Architecture évolutive