Système de test pour cycle de chaleur SMG2-600-CB-W

de sécurité fonctionnellede vieillissementde performance

Système de test de rodage de mémoire SANWOOD Tests de vieillissement et tests fonctionnels intégrés pour les circuits intégrés de mémoire Le système de test de vieillissement des mémoires SANWOOD combine des conditions thermiques contrôlées, des contraintes électriques et des tests fonctionnels des mémoires au sein d’une plateforme configurable. Conçu autour de cartes de vieillissement (BIB), il prend en charge le criblage parallèle des composants et l’évaluation de la fiabilité, la configuration du système étant adaptée aux produits mémoire et au processus de test du client. Les dimensions de la chambre, la capacité d’accueil des composants, la disposition des cartes et la capacité de charge thermique peuvent être personnalisées en fonction de la taille des boîtiers, de la conception des BIB, de la puissance de fonctionnement et des exigences de production. Tests de vieillissement et tests de mémoire intégrés Coordonnez l’exposition à la température, l’excitation électrique et les séquences de tests fonctionnels au sein d’un seul flux de travail de test. Pour les applications DRAM et LPDDR, la configuration peut intégrer des tests de rodage et des tests de cœur afin de rationaliser la transition entre le criblage sous contrainte et l’évaluation des dispositifs. Les conditions de test électrique, les connexions des dispositifs et les programmes de test sont adaptés à la famille de mémoires sélectionnée et aux objectifs de test. Tests parallèles avec capacité de dispositifs configurable La disposition basée sur le BIB permet d’accueillir plusieurs dispositifs répartis sur plusieurs cartes. La capacité est définie par le boîtier du dispositif, la disposition des emplacements, les dimensions du BIB, les emplacements disponibles sur les cartes et la charge thermique en fonctionnement. SANWOOD peut configurer la taille de la chambre et la disposition des charges en fonction de la quantité d’échantillons et du débit requis, aidant ainsi les clients à planifier la capacité de leurs équipements à mesure que leurs besoins en matière de tests évoluent. Contrôle thermique pour les charges de mémoire alimentées La répartition de la température est un facteur important à prendre en compte lorsque des cartes mémoire équipées fonctionnent sous contrainte électrique. La conception thermique tient compte de la densité des cartes, des voies de circulation d’air et de la dissipation thermique des composants. Des spécifications d’uniformité distinctes pour les charges BIB alimentées et non alimentées fournissent une base plus claire pour évaluer les performances dans les conditions d’essai prévues. Stabilisation de la température des échantillons Les spécifications du système incluent le temps de stabilisation de la surface des échantillons une fois que le capteur de contrôle de la chambre a atteint son point de consigne. Cela aide les ingénieurs à déterminer le calendrier des mesures électriques et des périodes d’exposition thermique. La référence de température et le critère de stabilisation sont définis dans la procédure de test en fonction du composant et de la méthode de test applicable. Personnalisation en fonction de vos produits mémoire Dimensions et volume de la chambre La largeur, la hauteur et la profondeur internes, ainsi que le volume de la chambre, peuvent être personnalisés pour s’adapter aux dimensions des BIB du client, à la disposition des cartes et à l’espace d’installation. Quantité d’échantillons et capacité d’accueil des BIB Le positionnement des cartes, le nombre de composants par carte et la capacité totale d’échantillons peuvent être configurés en fonction des dimensions des boîtiers, de l’espacement des emplacements, des exigences de connexion et du débit cible. Capacité de charge thermique La capacité thermique peut être conçue en fonction de la dissipation de puissance réelle des composants et des cartes chargés aux températures de fonctionnement requises. Disposition des cartes et connexions de test La disposition des racks, l’espacement entre les cartes et les interfaces peuvent être configurés en fonction de la conception du BIB et de l’architecture de test électrique. Exigences de test Les profils de température, les conditions de contrainte électrique, les séquences de test et les exigences en matière de données font partie intégrante du cahier des charges du projet. Configuration représentative — SMG2-600-CB-W Les spécifications suivantes décrivent une configuration de référence. Les dimensions de la chambre, la capacité d’échantillons et la capacité de charge thermique peuvent être personnalisées en fonction des produits du client. Modèle et capacité Modèle : SMG2-600-CB-W Capacité de la zone d’essai : 600 L × 2 (personnalisable en fonction des dimensions des échantillons et du rack d’essai). Dimensions internes, L × H × P : 600 × 1 320 × 730 mm Dimensions hors tout, L × H × P : 4 000 × 2 500 × 2 200 mm Contrôle de la température Plage de température : de −10 °C à 150 °C Variation de température : ±0,5 °C en régime permanent avec une charge BIB complète et hors tension. Écart de température : ±2 °C, sur la base de l’écart de température moyen au niveau de chaque capteur individuel. Homogénéité de la température en charge Charge BIB complète, non alimentée : Dans une plage de ±1,5 °C en régime permanent. Charge BIB complète, alimentée : Dans une plage de ±3,0 °C en régime permanent. Plage applicable pour les deux spécifications d’uniformité : de −10 °C à +130 °C. Performances de chauffage De +25 °C à +100 °C : ≤ 30 minutes. De +100 °C à +125 °C : ≤ 20 minutes. De −10 °C à +100 °C : ≤ 40 minutes. Spécifications établies avec le rack d’essai entièrement chargé et les BIB hors tension. Performances de refroidissement De +125 °C à +100 °C : ≤ 15 minutes. De +100 °C à −10 °C : ≤ 40 minutes. De +100 °C à +25 °C : ≤ 30 minutes. Spécifications valables avec le rack d’essai entièrement chargé et les BIB hors tension. Stabilisation de la température de surface de l’échantillon Dans les 12 minutes suivant l’atteinte du point de consigne par le capteur de contrôle de la chambre, dans les conditions spécifiées de charge et d’alimentation des BIB. Caractéristiques électriques Alimentation électrique : 380 V CA, 50 Hz Puissance maximale de fonctionnement approximative : 2 × 56 kW Niveau sonore ≤ 72 dB(A), mesuré à 1,5 m de l’équipement dans les conditions de fonctionnement spécifiées. Les dimensions finales, la capacité de l’appareil, la charge thermique nominale, les caractéristiques électriques et les performances en charge sont définies dans le cahier des charges du projet. Applications de test de mémoire Les applications comprennent le tri par vieillissement des circuits intégrés de mémoire, l’évaluation fonctionnelle, les études de durée de vie et les tests de fiabilité en production. Des configurations spécifiques aux dispositifs peuvent être développées pour les DRAM, LPDDR, mémoires flash NAND, mémoires flash NOR, eMMC et contrôleurs de mémoire. Les projets HBM sont examinés en fonction des interfaces des boîtiers, de l’architecture des cartes et des exigences de test électrique. Normes internationales de test applicables Les plans de test peuvent faire référence aux normes suivantes en fonction de la technologie de mémoire et de l’objectif de qualification. JEDEC JESD22-A108 — Température, polarisation et durée de vie en service Évaluation de la durée de vie en fonctionnement sous des contraintes thermiques et électriques définies, y compris les essais de durée de vie en fonctionnement à haute température (HTOL). JEDEC JESD22-A103 — Durée de vie en stockage à haute température Évaluation du stockage à température élevée des dispositifs semi-conducteurs sans polarisation de fonctionnement. JEDEC JESD22-A117 — Endurance et rétention des données des mémoires non volatiles Évaluation de l’endurance et de la rétention à l’aide de procédures appropriées de programmation/effacement, de relecture et d’exposition thermique. MIL-STD-883, méthode 1015 — Essai de rodage Triage des microcircuits visant à détecter les défaillances précoces, dépendantes du temps et de la contrainte. AEC-Q100 — Qualification des circuits intégrés automobiles Planification de la qualification des circuits intégrés de mémoire destinés à l’automobile, y compris les essais de durée de vie applicables dans le cadre du programme complet de qualification des dispositifs. La révision de la norme sélectionnée, les conditions de contrainte, la référence de température, la durée et les critères d’acceptation sont convenus lors de la définition du projet. L’adéquation de la qualification est validée à l’aide d’un dispositif complet d’essais thermiques et électriques sous une charge représentative. À propos de SANWOOD Fondée en 1995, SANWOOD fabrique des équipements d’essais environnementaux et de fiabilité destinés aux applications des secteurs des semi-conducteurs, de l’électronique, de l’automobile et de l’aérospatiale. Son portefeuille comprend des systèmes de burn-in de mémoire, des systèmes de contrainte thermique, des chambres HAST, des chambres HALT/HASS et des chambres de choc thermique. Demandez une solution de burn-in de mémoire sur mesure Communiquez à SANWOOD les spécifications de vos dispositifs de mémoire, les schémas BIB, la quantité d’échantillons requise, la charge thermique de fonctionnement et la procédure de test. Notre équipe peut élaborer une proposition de configuration couvrant les dimensions de la chambre, la capacité en cartes, les performances thermiques et les exigences d’intégration des tests pour votre application. Système de test de rodage de mémoire SANWOOD Tests de rodage et fonctionnels intégrés pour les circuits intégrés de mémoire Le système de test de rodage de mémoire SANWOOD combine des conditions thermiques contrôlées, des contraintes électriques et des tests fonctionnels de mémoire au sein d’une plateforme configurable. Conçu autour de cartes de vieillissement (BIB), il prend en charge le criblage parallèle des dispositifs et l’évaluation de la fiabilité, la configuration du système étant adaptée aux produits mémoire et au processus de test du client. Les dimensions de la chambre, la capacité d’accueil des dispositifs, la disposition des cartes et la capacité de charge thermique peuvent être personnalisées en fonction de la taille du boîtier, de la conception des BIB, de la puissance de fonctionnement et des exigences de production. Tests de rodage et de mémoire intégrés Coordonnez l’exposition à la température, l’excitation électrique et les séquences de tests fonctionnels au sein d’un seul flux de travail de test. Pour les applications DRAM et LPDDR, la configuration peut intégrer des tests de rodage et des tests de cœur afin de rationaliser la transition entre le criblage sous contrainte et l’évaluation des dispositifs. Les conditions de test électrique, les connexions des dispositifs et les programmes de test sont adaptés à la famille de mémoires sélectionnée et aux objectifs de test. Tests parallèles avec une capacité de dispositifs configurable La disposition basée sur le BIB permet d’accueillir plusieurs dispositifs répartis sur plusieurs cartes. La capacité est définie par le boîtier du dispositif, la disposition des sockets, les dimensions du BIB, les emplacements disponibles sur les cartes et la charge thermique en fonctionnement. SANWOOD peut configurer la taille de la chambre et la disposition du chargement en fonction de la quantité d’échantillons requise et du débit, aidant ainsi les clients à planifier la capacité de leurs équipements à mesure que leurs besoins en matière de tests évoluent. Contrôle thermique pour les charges de mémoire alimentées La répartition de la température est un facteur important à prendre en compte lorsque des cartes mémoire équipées fonctionnent sous contrainte électrique. La conception thermique tient compte de la densité des cartes, des voies de circulation d’air et de la dissipation thermique des composants. Des spécifications d’uniformité distinctes pour les charges BIB alimentées et non alimentées fournissent une base plus claire pour évaluer les performances dans les conditions de test prévues. Stabilisation de la température des échantillons Les spécifications du système incluent le temps de stabilisation de la surface des échantillons une fois que le capteur de contrôle de la chambre a atteint sa valeur de consigne. Cela aide les ingénieurs à déterminer le moment des mesures électriques et les durées d’exposition thermique. La référence de température et le critère de stabilisation sont définis dans la procédure de test en fonction du composant et de la méthode de test applicable. Personnalisation en fonction de vos produits mémoire Dimensions et volume de la chambre La largeur, la hauteur et la profondeur internes, ainsi que le volume de la chambre, peuvent être personnalisés pour s’adapter aux dimensions des BIB du client, à la disposition des cartes et à l’espace d’installation. Quantité d’échantillons et capacité des BIB La disposition des cartes, le nombre de dispositifs par carte et la capacité totale d’échantillons peuvent être configurés en fonction des dimensions des boîtiers, de l’espacement des emplacements, des exigences de connexion et du débit visé. Capacité de charge thermique La capacité thermique peut être conçue en fonction de la dissipation de puissance réelle des dispositifs et des cartes chargés aux températures de fonctionnement requises. Disposition des cartes et connexions de test La disposition des racks, l’espacement des cartes et les interfaces peuvent être configurés en fonction de la conception du BIB et de l’architecture de test électrique. Exigences de test Les profils de température, les conditions de contrainte électrique, les séquences de test et les exigences en matière de données font partie intégrante du cahier des charges du projet. Configuration représentative — SMG2-600-CB-W Les spécifications suivantes décrivent une configuration de référence. Les dimensions de la chambre, la capacité d’échantillons et la capacité de charge thermique peuvent être personnalisées en fonction des produits du client. Modèle et capacité Modèle : SMG2-600-CB-W Capacité de la zone de test : 600 L × 2 Dimensions internes, L × H × P : 600 × 1 320 × 730 mm Dimensions hors tout, L × H × P : 4 000 × 2 500 × 2 200 mm Régulation de la température Plage de température : de −10 °C à 150 °C Fluctuation de température : ±0,5 °C en régime permanent avec une charge BIB complète et non alimentée. Écart de température : ±2 °C, sur la base de l’écart de température moyen au niveau de chaque capteur individuel. Uniformité de la température sous charge Charge BIB complète, non alimentée : à ±1,5 °C près en régime permanent. Charge BIB complète, alimentée : à ±3,0 °C près en régime permanent. Plage applicable pour les deux spécifications d’uniformité : de −10 °C à +130 °C. Performances de chauffage De +25 °C à +100 °C : ≤ 30 minutes. De +100 °C à +125 °C : ≤ 20 minutes. De −10 °C à +100 °C : ≤ 40 minutes. Spécifications établies avec le rack d’essai entièrement chargé et les BIB hors tension. Performances de refroidissement De +125 °C à +100 °C : ≤ 15 minutes. De +100 °C à −10 °C : ≤ 40 minutes. De 100 °C à 25 °C : ≤ 30 minutes. Spécifications valables avec le rack d’essai entièrement chargé et les BIB hors tension. Stabilisation de la température de surface de l’échantillon Dans les 12 minutes suivant l’atteinte du point de consigne par le capteur de contrôle de la chambre, dans les conditions spécifiées de charge et d’alimentation des BIB. Caractéristiques électriques Alimentation électrique : CA 380 V, 50 Hz Puissance de fonctionnement maximale approximative : 2 × 56 kW Niveau sonore ≤ 72 dB(A), mesuré à 1,5 m de l’équipement dans les conditions de fonctionnement spécifiées. Les dimensions finales, la capacité de l’appareil, la charge thermique nominale, les caractéristiques électriques et les performances en charge sont définies dans le cahier des charges du projet. Applications de test de mémoire Les applications comprennent le criblage par rodage des circuits intégrés de mémoire, l’évaluation fonctionnelle, les études de durée de vie et les tests de fiabilité en production. Des configurations spécifiques aux composants peuvent être développées pour les DRAM, LPDDR, mémoires flash NAND, mémoires flash NOR, eMMC et contrôleurs de mémoire. Les projets HBM sont examinés en fonction des interfaces des boîtiers, de l’architecture des cartes et des exigences de test électrique. Normes internationales de test pertinentes Les plans de test peuvent faire référence aux normes suivantes en fonction de la technologie de mémoire et de l’objectif de qualification. JEDEC JESD22-A108 — Température, polarisation et durée de vie en service Évaluation de la durée de vie en service sous des contraintes thermiques et électriques définies, y compris les essais de durée de vie en service à haute température (HTOL). JEDEC JESD22-A103 — Durée de vie en stockage à haute température Évaluation de la durée de stockage à température élevée des dispositifs semi-conducteurs sans polarisation de fonctionnement. JEDEC JESD22-A117 — Endurance et rétention des données des mémoires non volatiles Évaluation de l’endurance et de la rétention à l’aide de procédures appropriées de programmation/effacement, de relecture et d’exposition thermique. MIL-STD-883, méthode 1015 — Essai de rodage Triage des microcircuits visant à détecter les défaillances précoces, dépendantes du temps et des contraintes. AEC-Q100 — Qualification des circuits intégrés automobiles Planification de la qualification des circuits intégrés de mémoire destinés à l’automobile, y compris les essais de durée de vie applicables dans le cadre du programme complet de qualification des dispositifs. La révision de la norme sélectionnée, les conditions de contrainte, la référence de température, la durée et les critères d’acceptation sont convenus lors de la définition du projet. L’adéquation de la qualification est validée à l’aide d’un dispositif complet d’essais thermiques et électriques sous une charge représentative. À propos de SANWOOD Fondée en 1995, SANWOOD fabrique des équipements d’essais environnementaux et de fiabilité destinés aux applications des secteurs des semi-conducteurs, de l’électronique, de l’automobile et de l’aérospatiale. Son portefeuille comprend des systèmes de burn-in de mémoire, des systèmes de contrainte thermique, des chambres HAST, des chambres HALT/HASS et des chambres de choc thermique. Demandez une solution de burn-in de mémoire sur mesure Communiquez à SANWOOD les spécifications de vos dispositifs de mémoire, les schémas des cartes de rodage (BIB), la quantité d’échantillons requise, la charge thermique de fonctionnement et la procédure de test. Notre équipe peut élaborer une proposition de configuration couvrant les dimensions de la chambre, la capacité des cartes, les performances thermiques et les exigences d’intégration des tests pour votre application. Système de test de rodage de mémoire SANWOOD Tests de rodage et fonctionnels intégrés pour les circuits intégrés de mémoire Le système de test de rodage de mémoire SANWOOD combine des conditions thermiques contrôlées, des contraintes électriques et des tests fonctionnels de mémoire au sein d’une plateforme configurable. Conçu autour de cartes de rodage (BIB), il prend en charge le criblage parallèle des dispositifs et l’évaluation de la fiabilité, la configuration du système étant adaptée aux produits mémoire et au processus de test du client. Les dimensions de la chambre, la capacité en dispositifs, la disposition des cartes et la capacité de charge thermique peuvent être personnalisées en fonction de la taille des boîtiers, de la conception des BIB, de la puissance de fonctionnement et des exigences de production. Tests de vieillissement et de mémoire intégrés Coordonnez l’exposition à la température, l’excitation électrique et les séquences de tests fonctionnels au sein d’un seul flux de travail de test. Pour les applications DRAM et LPDDR, la configuration peut intégrer des tests de vieillissement et des tests de cœur afin de rationaliser la transition entre le criblage sous contrainte et l’évaluation des dispositifs. Les conditions de test électrique, les connexions des dispositifs et les programmes de test sont adaptés à la famille de mémoire sélectionnée et aux objectifs de test. Tests en parallèle avec une capacité de dispositifs configurable La disposition basée sur le BIB permet d’accueillir plusieurs dispositifs répartis sur plusieurs cartes. La capacité est définie par le boîtier du dispositif, la disposition des sockets, les dimensions du BIB, les emplacements disponibles sur la carte et la charge thermique en fonctionnement. SANWOOD peut configurer la taille de la chambre et la disposition de chargement en fonction de la quantité d’échantillons et du débit requis, aidant ainsi les clients à planifier la capacité de leur équipement à mesure que leurs besoins en matière de tests évoluent. Contrôle thermique pour les charges de mémoire alimentées La répartition de la température est un facteur important à prendre en compte lorsque des cartes mémoire équipées fonctionnent sous contrainte électrique. La conception thermique tient compte de la densité des cartes, des chemins d’écoulement de l’air et de la dissipation thermique des composants. Des spécifications d’uniformité distinctes pour les charges BIB alimentées et non alimentées fournissent une base plus claire pour évaluer les performances dans les conditions de test prévues. Stabilisation de la température des échantillons Les spécifications du système incluent le temps de stabilisation de la surface des échantillons une fois que le capteur de contrôle de la chambre a atteint sa consigne. Cela aide les ingénieurs à déterminer le moment des mesures électriques et les durées d’exposition thermique. La référence de température et le critère de stabilisation sont définis dans la procédure de test en fonction du composant et de la méthode de test applicable. Personnalisation en fonction de vos produits mémoire Dimensions et volume de la chambre La largeur, la hauteur et la profondeur internes, ainsi que le volume de la chambre, peuvent être personnalisés pour s’adapter aux dimensions des BIB du client, à la disposition des cartes et à l’espace d’installation. Quantité d’échantillons et capacité du BIB Les positions des cartes, le nombre de dispositifs par carte et la capacité totale d’échantillons peuvent être configurés en fonction des dimensions des boîtiers, de l’espacement des emplacements, des exigences de connexion et du débit visé. Capacité de charge thermique La capacité thermique peut être conçue en fonction de la dissipation de puissance réelle des dispositifs et des cartes chargés aux températures de fonctionnement requises. Disposition des cartes et connexions de test La disposition des racks, l’espacement entre les cartes et les interfaces peuvent être configurés en fonction de la conception du BIB et de l’architecture de test électrique. Exigences de test Les profils de température, les conditions de contrainte électrique, les séquences de test et les exigences en matière de données font partie intégrante du cahier des charges du projet. Configuration représentative — SMG2-600-CB-W Les spécifications suivantes décrivent une configuration de référence. Les dimensions de la chambre, la capacité d’échantillons et la capacité de charge thermique peuvent être personnalisées en fonction des produits du client. Modèle et capacité Modèle : SMG2-600-CB-W Capacité de la zone d’essai : 600 L × 2 Dimensions internes, L × H × P : 600 × 1 320 × 730 mm Dimensions hors tout, L × H × P : 4 000 × 2 500 × 2 200 mm Contrôle de la température Plage de température : de −10 °C à 150 °C Variation de température : ±0,5 °C en régime permanent avec une charge BIB complète et non alimentée. Écart de température : ±2 °C, sur la base de l’écart de température moyen au niveau de chaque capteur individuel. Homogénéité de la température en charge Charge BIB complète, non alimentée : ±1,5 °C en régime permanent. Charge BIB complète, alimentée : ±3,0 °C en régime permanent. Plage applicable pour les deux spécifications d'uniformité : de −10 °C à +130 °C. Performances de chauffage De +25 °C à +100 °C : ≤ 30 minutes. De +100 °C à +125 °C : ≤ 20 minutes. De −10 °C à +100 °C : ≤ 40 minutes. Spécifications établies avec le rack d’essai entièrement chargé et les BIB hors tension. Performances de refroidissement De +125 °C à +100 °C : ≤ 15 minutes. De 100 °C à −10 °C : ≤ 40 minutes. De 100 °C à 25 °C : ≤ 30 minutes. Spécifications valables avec le rack d'essai entièrement chargé et les BIB hors tension. Stabilisation de la température de surface de l’échantillon Dans les 12 minutes suivant l’atteinte du point de consigne par le capteur de contrôle de la chambre, dans les conditions spécifiées de charge et d’alimentation des BIB. Caractéristiques électriques Alimentation électrique : 380 V CA, 50 Hz Puissance maximale de fonctionnement approximative : 2 × 56 kW Niveau sonore ≤ 72 dB(A), mesuré à 1,5 m de l’équipement dans les conditions de fonctionnement spécifiées. Les dimensions finales, la capacité de l’appareil, la charge thermique nominale, les caractéristiques électriques et les performances en charge sont définies dans le cahier des charges du projet. Applications de test de mémoire Les applications comprennent le rodage et le tri des circuits intégrés de mémoire, l’évaluation fonctionnelle, les études de durée de vie et les tests de fiabilité en production. Des configurations spécifiques aux dispositifs peuvent être développées pour les DRAM, LPDDR, mémoires flash NAND, mémoires flash NOR, eMMC et contrôleurs de mémoire. Les projets HBM sont examinés en fonction des interfaces des boîtiers, de l’architecture des cartes et des exigences de test électrique. Normes internationales de test pertinentes Les plans de test peuvent faire référence aux normes suivantes en fonction de la technologie de mémoire et de l’objectif de qualification. JEDEC JESD22-A108 — Température, polarisation et durée de vie en service Évaluation de la durée de vie en service sous des contraintes thermiques et électriques définies, y compris les tests de durée de vie en service à haute température (HTOL). JEDEC JESD22-A103 — Durée de stockage à haute température Évaluation du stockage à température élevée des dispositifs semi-conducteurs sans polarisation de fonctionnement. JEDEC JESD22-A117 — Endurance et rétention des données des mémoires non volatiles Évaluation de l’endurance et de la rétention à l’aide de procédures appropriées de programmation/effacement, de relecture et d’exposition thermique. MIL-STD-883, Méthode 1015 — Essai de rodage Triage des microcircuits visant à détecter les défaillances précoces, dépendantes du temps et des contraintes. AEC-Q100 — Qualification des circuits intégrés automobiles Planification de la qualification des circuits intégrés de mémoire automobiles, y compris les essais de durée de vie applicables dans le cadre du programme complet de qualification des composants. La révision de la norme sélectionnée, les conditions de contrainte, la référence de température, la durée et les critères d’acceptation sont convenus lors de la définition du projet. L’adéquation de la qualification est validée à l’aide d’un dispositif complet d’essais thermiques et électriques sous une charge représentative. À propos de SANWOOD Fondée en 1995, SANWOOD fabrique des équipements d’essais environnementaux et de fiabilité destinés aux applications des secteurs des semi-conducteurs, de l’électronique, de l’automobile et de l’aérospatiale. Son portefeuille comprend des systèmes de burn-in de mémoire, des systèmes de forçage thermique, des chambres HAST, des chambres HALT/HASS et des chambres de choc thermique. Demandez une solution de burn-in de mémoire sur mesure Communiquez à SANWOOD les spécifications de vos dispositifs de mémoire, les schémas BIB, la quantité d’échantillons requise, la charge thermique de fonctionnement et la procédure d’essai. Notre équipe peut élaborer une proposition de configuration couvrant les dimensions de la chambre, la capacité en cartes, les performances thermiques et les exigences d’intégration des essais pour votre application.