Détecteur optique MIV-X

à ultrasonsthermiquepour caméra

Présentation
La détection optique de défauts par ultrasons permet de visualiser des défauts internes proches de la surface (environ 1 mm de profondeur) difficilement détectables par le contrôle ultrasonore conventionnel. Le MIV-X combine un oscillateur ultrasonore, une illumination stroboscopique et une caméra en s'appuyant sur la technique d'imagerie lumineuse propriétaire de Shimadzu pour détecter optiquement les déplacements de surface et visualiser la propagation des ondes ultrasonores. Convient pour l'inspection de fissures, vides, délaminations, décollage d'adhésifs, peintures, revêtements thermiques et assemblages dans des structures multimatières.

Inspection visuelle rapide

• Fixer l'oscillateur ultrasonore sur l'échantillon et positionner la caméra au‑dessus de la zone d'inspection.
• La propagation des ultrasons s'affiche en vidéo, permettant une identification visuelle rapide des défauts.
• Le logiciel intuitif permet de marquer les défauts et de mesurer directement les dimensions sur les images/vidéos.
• L'option Optical Zoom Set réduit la taille minimale détectable pour repérer des défauts plus petits.

Principe de fonctionnement
Le système détecte optiquement les déplacements de surface minimes causés par les ondes ultrasonores. En synchronisant un oscillateur ultrasonore avec une illumination stroboscopique, la propagation des ondes devient visible sous forme d'images ou de vidéos. L'opérateur peut marquer les défauts et mesurer la distance entre des points pour déterminer la position et la taille des défauts.

Avantages et principales capacités

• Technique d'imagerie lumineuse propriétaire Shimadzu : détection optique des déplacements de surface induits par les ultrasons.
• Efficace pour les défauts proches de la surface lorsque le CND ultrasonore conventionnel est limité.
• Suppression numérique du bruit pour faciliter la reconnaissance des défauts dans la fenêtre d'affichage.
• Affichage d'échelle sur l'image et outils de mesure de distance pour l'analyse dimensionnelle directe.
• Optical Zoom Set optionnel : réduction d'environ deux fois de la taille minimale détectable (d'environ 1 mm à 0,5 mm), avec réglage de l'axe optique laser pour une uniformité d'irradiation améliorée.
• Logiciel ergonomique pour le marquage et la mesure des défauts à partir d'images/vidéos.

Domaines d'application
Utilisé en R&D et en inspection qualité pour des assemblages multimatières nécessitant la détection de défauts proches de la surface (~1 mm). Particulièrement adapté aux joints collés, composants superposés ou revêtus et aux structures où l'optimisation masse/solidité impose un contrôle fiable en proche surface.

Caractéristiques / spécifications techniques

• Brand: Shimadzu
• Model: MIV-X
• Principe d'imagerie : oscillateur ultrasonore combiné à une détection optique stroboscopique (imagerie lumineuse propriétaire)
• Profondeur de visualisation : défauts proches de la surface, environ 1 mm
• Taille minimale détectable (standard) : environ 1 mm de diamètre
• Taille minimale détectable (Optical Zoom optionnel) : environ 0,5 mm de diamètre
• Fonctions : suppression numérique du bruit, outils de marquage, affichage d'échelle sur image, mesure de distance
• Mode d'emploi : fixer l'oscillateur sur l'échantillon, positionner la caméra au‑dessus de la surface d'inspection, observer la propagation ultrasonore en vidéo/images
• Cibles d'inspection : fissures, vides, délamination, décollage d'adhésif, peintures et revêtements thermiques, assemblages multimatières
• Technique d'inspection non destructive
• Destiné à la recherche ; ne pas utiliser pour des procédures médicales diagnostiques