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Station de mesures sous pointes semi-automatique DX1PS2
magnétique

Station de mesures sous pointes semi-automatique - DX1PS2 - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd. - magnétique
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Caractéristiques

Type
semi-automatique, magnétique

Description

Présentation
  • La station de sondage à champ magnétique vertical unidimensionnel DX1PS2 fournit un environnement de champ magnétique vertical contrôlé pour les essais par sondes, avec une forte uniformité et une surveillance précise du champ en temps réel.
  • Conçue pour supporter des mesures multi-sondes simultanées et permettre l'observation au microscope lors du contact des aiguilles grâce à un chapeau magnétique supérieur mobile/amovible.


Principales caractéristiques
  • Fournit un champ magnétique vertical avec une forte uniformité sur la zone de test (±1% @ d2mm).
  • Surveillance en temps réel et rétroaction du champ magnétique avec une précision de mesure meilleure que 1% et une résolution du champ meilleure que 0,02 mT.
  • Chapeau magnétique supérieur mobile/amovible pour permettre l'accès du microscope pendant le contact des sondes.
  • Conçu pour des tests multi-sondes simultanés : jusqu'à 4 jeux de sondes DC et jusqu'à 4 jeux de sondes micro-ondes.


Caractéristiques techniques
  • Modèle : DX1PS2
  • Direction du champ magnétique : Verticale
  • Intensité maximale du champ magnétique : >1,2 T
  • Entrefer : 7 mm (chapeau supérieur amovible)
  • Taille de l'échantillon : 20 mm × 20 mm (option de mise à niveau pour tests sur wafer 4 pouces)
  • Type et quantité de sondes : sondes DC (4 jeux) / sondes micro-ondes (4 jeux)
  • Paramètres de la platine échantillon : course XY ±15 mm ; précision de déplacement horizontal 1 µm ; réglage fin de l'axe T 5°
  • Type de microscope : microscope monoculaire


Options de mise à niveau
  • Platine échantillon multi-axes semi-automatique
  • Fonction de levage rapide du plan des sondes
  • Possibilité de montée en gamme vers une station pour wafer 4 pouces

Catalogues

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