La station de sondage DX1PS3 au niveau wafer pour champ magnétique dans le plan est conçue pour la caractérisation électrique et magnétique des matériaux semi‑conducteurs, des dispositifs micro‑nano et des dispositifs spintroniques. Elle délivre un champ magnétique unidimensionnel dans le plan jusqu'à 330 mT (à 10 mm d'écart d'air) et prend en charge des mesures électriques DC/RF haute précision.
Introduction des paramètres
Modèle : DX1PS3
Direction du champ magnétique : dans le plan (X)
Intensité du champ magnétique : ≥ 330 mT @ 10 mm écart d'air
Écart d'air réglable : Non
Taille d'échantillon : wafer 12 pouces (compatible rétroactivement avec 8" et 6")
Type et nombre de sondes : sondes DC (jeu de 4) ou sondes micro‑ondes (jeu de 4)
Plateau échantillon : déplacement XY commande électrique ±150 mm, précision 2 μm ; axe T manuel ±5°, précision minimale 5′
Type de microscope : monoculaire
Description du produit
Test de champ magnétique dans le plan avec structure modulaire (magnét échangeable) ; uniformité du champ ±1% @ 1 mm.
Surveillance et rétroaction du champ en temps réel avec précision <1% et résolution <0.02 mT.
Prend en charge wafers jusqu'à 12 pouces et compatible avec échantillons 8" et 6".
Accepte jusqu'à 4 jeux de sondes (RF ou DC) et dispose d'une plateforme de sondes en Z à levée rapide pour optimiser le débit de tests.
Conception prête pour intégration incluant sonde Hall, gaussmètre et support de réglage du microscope.
Configuration spécifique (résumé)
Ensemble principal : station DX1PS3 wafer level pour champ magnétique dans le plan
Électroaimant unidimensionnel in‑plane (1 pc) : direction X, ≥330 mT @ 10 mm écart d'air, zone uniforme ±1% @ 1 mm, résolution 0.02 mT
Alimentation / source de courant 400 W (1 pc) : sortie bipolaire continue, fonctionnement en quatre quadrants, vitesse de variation configurables (0.00001 à 0.5 F.S./s, F.S.=5 A), alimentation AC monophasée 220 V ±10%
Support d'échantillon (1 pc) : course X/Y ±150 mm, résolution 2 μm ; axe T manuel ±5° (sensibilité ≈5′) ; diamètre du porte‑échantillon 10 pouces, adsorption par vide
Support de sonde / fixture (4 pcs) : base à commutation par vide ; course fine XY ±6 mm ; résolution d'ajustement ±1 μm ; inclinaison 30° ; inclut sondes DC (jeu type 4), fuite ≤10 pA, courant max 1 A, tenue 700 V, fréquence max 1 MHz ; câbles coaxiaux ≥1.5 m, connecteurs BNC mâle
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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