Microscope optique Eclipse Ci-POLmultiusagepour mesures sur couches mincespour analyse
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
Caractéristiques
- Type
- optique
- Applications
- pour la recherche, pour analyse, pour inspection de surface, pour inspection de matériau, pour l'inspection des inclusions non métalliques, pour gemmologie, pour mesures sur couches minces, éducatif, industriel, pour le contrôle qualité, pour la recherche en matériaux, pour la médecine légale, multiusage
- Ergonomie
- droit
- Tête du microscope
- trinoculaire, binoculaire
- Technique d'observation
- à champ clair, à fluorescence, polariseur, spectral, à fond sombre, à contraste interférentiel différentiel
- Configuration
- de paillasse, compact, portable
- Source de lumière
- à illumination LED, à illumination coaxiale
- Autres caractéristiques
- à caméra numérique, haute résolution, ergonomique, modulaire, à grande distance de travail, économique, de traitement d'images, de haute précision, simple d'installation, avec control de l'intensité lumineuse, pour identification d'amiante, de capture d'image, pour échantillon plat, à température variable, à fort contraste, à fort grossissement
- Grossissement
Min: 5 unit
Max: 100 unit
- Poids
14 kg (30,9 lb)
- Longueur
271 mm (10,7 in)
- Largeur
247 mm (9,7 in)
- Hauteur
455 mm (17,9 in)
Description
Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur de l’image. Nikon propose des systèmes adaptés à l’étude quantitative et qualitative.
Toutes les applications, aussi bien pour la recherche que classique, sont prises en charge
Les optiques Nikon CFI60-POL de qualité supérieure produisent d’excellentes images dans les oculaires et sur les appareils photo numériques Nikon. LV100N POL permet de réaliser toute une série d’études, de la conoscopie à l’orthoscopie, grâce à une gamme complète d’accessoires dédiés. Ci-POL permet de réaliser toute une série d’études sur un microscope compact.
Nikon ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL
Ces instruments disposent d’un éclairage épiscopique et diascopique pour l’étude minéralogique de coupes grossières ou minces. Les matériaux optiquement actifs peuvent être étudiés pour analyser leur composition et leur distribution.
Série de lentilles objectifs CFI60-POL de Nikon
Les objectifs innovants POL de Nikon, sans tension, à grande distance frontale, à ouverture numérique élevée et à composants en verre écologique, fournissent des images claires et très contrastées pour l’observateur et l’appareil photo numérique.
Catalogues
Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.
Voir tous les catalogues de Nikon Metrology
Recherches associées
- Microscope Nikon Metrology
- Microscope optique Nikon Metrology
- Microscope de laboratoire
- Microscope de paillasse Nikon Metrology
- Microscope à caméra numérique Nikon Metrology
- Microscope à illumination LED Nikon Metrology
- Microscope d'inspection Nikon Metrology
- Microscope pour analyse
- Microscope droit Nikon Metrology
- Microscope de mesure Nikon Metrology
- Microscope à champ clair
- Microscope d'enseignement
- Microscope trinoculaire
- Stéréomicroscope
- Microscope haute résolution
- Microscope polariseur
- Microscope binoculaire
- Stéréomicroscope optique
- Microscope industriel
- Microscope métallurgique
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.