Spectromètre d'émission atomique ICP-8100
d'émission optiqueICPICP-OES

Spectromètre d'émission atomique - ICP-8100 - Labfreez Instruments Group Co., Ltd - d'émission optique / ICP / ICP-OES
Spectromètre d'émission atomique - ICP-8100 - Labfreez Instruments Group Co., Ltd - d'émission optique / ICP / ICP-OES
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Caractéristiques

Type
d'émission atomique, d'émission optique, ICP-OES
Domaine
pour analyses élémentaires, pour spectroscopie, pour engins mobiles, pour applications industrielles, pour laboratoire
Configuration
de paillasse
Type de détecteur
PMT
Autres caractéristiques
à réseau, à spectre complet, de grande sensibilité, haute précision

Description

Courte description
Le spectromètre d'émission à plasma induit ICP-8100 réalise l'analyse quantitative et qualitative des éléments métalliques et de certains non-métaux dans des échantillons liquides et dans des solides transformés en solution. Conçu pour l'analyse élémentaire en milieu industriel et de laboratoire, avec des limites de détection au niveau ppb et un débit multi-élément élevé.

Principe de fonctionnement
L'instrument atomise et excite l'aérosol d'échantillon dans un plasma d'argon ; les longueurs d'onde caractéristiques émises sont dispersées puis détectées pour déterminer les concentrations en éléments.

Indices de performance globaux de l'instrument
  • Gamme spectrale : 180–800 nm (2400 traits/mm) ou 180–500 nm (3600 traits/mm)
  • Résolution : ≤0.006 nm (bande complète)
  • Précision de la longueur d'onde : ≤0.02 nm ; répétabilité ≤0.003 nm
  • Pas de numérisation : 0.0004 nm
  • Précision (RSD) : ≤1,50 % ; Stabilité (RSD) : ≤2 %
  • Limite de détection : niveau ppb
  • Éléments : tous sauf C, S et certains non-métaux légers et certains métaux radioactifs
  • Plage linéaire : ≥7 ordres de grandeur
  • Vitesse d'analyse : ≥25 éléments/min
  • Certificats : Appareil de mesure national Classe A


Principales parties — paramètres détaillés
Générateur radiofréquence (RF)
Type de circuit : oscillation auto-excitée à rétroaction d'inductance
Puissance de sortie : 800–1200 W
Fréquence de fonctionnement : 40,68 MHz ±0,05 %
Stabilité de puissance : ≤0,3 %
Stabilité de fréquence : <0,1 %
Fuite de champ électromagnétique : à 30 cm E < 1 V/m

Dispositif d'injection
Bobine de sortie diamètre intérieur : 25 mm, 3 spires
Torche : torche en quartz à trois conjuguées, diamètre extérieur 20 mm
Nébuliseur coaxial : diamètre extérieur 6 mm (personnalisable)
Chambre d'atomisation (binoculaire) : diamètre extérieur 34 mm (personnalisable)
Position d'observation : verticale

Débitmètres d'argon et régulateurs de pression
Gaz plasma : 100–1000 L/h (1,6–16 L/min)
Gaz auxiliaire : 1–100 L/h (0,16–1,66 L/min)
Gaz porteur : 10–100 L/h (0,16–1,66 L/min)
Régulateur : 0–0,4 MPa
Eau de refroidissement : 15–25 °C ; débit > 5 L/min ; pression > 0,1 MPa ; résistivité > 1 MΩ

Séparateur optique
Configuration optique : Czerny–Turner
Pas de numérisation : 0.0004 nm
Longueur focale : 1000 mm
Fente entrée/sortie : 20 μm × 25 μm
Réseau : holographique ion-égrené ; options 3600 ou 2400 traits/mm (80 × 110 mm)
Dispersion linéaire réciproque : 0,26 nm/mm
Résolution : ≤0.006 nm (bande complète)
Thermostat : 26 °C ±1 °C
Plage de balayage : 180–500 nm (3600 t/mm) ou 180–800 nm (2400 t/mm)

Appareil de mesure
Photomultiplicateur : R212UH ou R928
Haute tension négative : 0–1000 V, réglage automatique, stabilité < 0,05 %
Plage de courant : 10^-12 – 10^-4 A (en option)
Circuit d'échantillonnage : amplificateur opérationnel de haute précision
Acquisition de données : connexion PC via port série
Mode de mesure : mono- et multi-élément séquentiel, scan en une passe
Conversion signal V/F : 1 mV = 100 Hz

Principales caractéristiques et fonctions logicielles
  • Système optique optimisé et contrôle avancé pour un bon rapport signal/bruit
  • Composants clés importés garantissant précision et sensibilité
  • Effet matrice minimal : ~99 % des échantillons sans séparation de matrice
  • Large plage dynamique : de l'ultra-trace aux concentrations élevées
  • Analyse multi-éléments : ~72 éléments métalliques et certains non-métaux
  • Modes d'analyse qualitative et quantitative
  • Logiciel Windows en chinois/anglais, traitement des données et impression flexibles


Avantages logiciels spécifiques
Logiciel propriétaire multi-fenêtre avec logo fabricant ; support de la méthode d'ajout standard, modes mono/multi-points, ajustement gaussien, multitâche ; modes d'analyse rapides prédéfinis ; compatibilité imprimante et formats de sortie variés.

Avantages pour le client
Expérience fabricant depuis 2000, clientèle nationale et internationale ; fournit des spectromètres d'émission plasma précis, sensibles et stables pour usage laboratoire et industriel.

Caractéristiques techniques
  • Modèle : ICP-8100
  • Gamme spectrale : 180–800 nm (2400 traits/mm) ou 180–500 nm (3600 traits/mm)
  • Résolution : ≤0.006 nm (bande complète)
  • Précision longueur d'onde : ≤0.02 nm ; répétabilité ≤0.003 nm
  • Pas de balayage : 0.0004 nm
  • Précision (RSD) : ≤1,50 % ; Stabilité (RSD) : ≤2 %
  • Limite de détection : niveau ppb
  • Éléments : tous sauf C, S et certains non-métaux légers ou quelques métaux radioactifs
  • Vitesse d'analyse : ≥25 éléments/min
  • Puissance RF : 800–1200 W ; fréquence 40,68 MHz ±0,05 %
  • Photomultiplicateur : R212UH ou R928 ; HV 0–1000 V
  • Eau de refroidissement : 15–25 °C ; débit > 5 L/min ; pression > 0,1 MPa ; résistivité > 1 MΩ
  • Logiciel : Windows, chinois/anglais, analyse multi-fenêtre

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