Spectromètre XRF EA-XF3500X
à fluorescence Xpour le bâtimentpour l'industrie minière

Spectromètre XRF - EA-XF3500X - Labfreez Instruments Group Co., Ltd - à fluorescence X / pour le bâtiment / pour l'industrie minière
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Caractéristiques

Type
XRF, à fluorescence X
Domaine
pour le bâtiment, pour l'industrie minière, pour l'industrie métallurgique, pour analyses élémentaires
Configuration
compact, de paillasse
Autres caractéristiques
à lecture directe
Longueur

36,8 cm
(14,49 in)

Largeur

46,8 cm
(18,43 in)

Hauteur

13,6 cm
(5,35 in)

Description

Utilisation principale
L'EA-XF3500 est un analyseur à fluorescence X qui excite l'échantillon par rayons X et détecte les rayons X caractéristiques émis pour fournir des résultats qualitatifs et quantitatifs sur la silice et l'alumine. Il s'adresse aux secteurs industriels tels que la métallurgie, l'exploitation minière et les matériaux de construction, et est couramment utilisé en cimenterie pour mesurer le taux de SiO2 et Al2O3 dans les matières premières, le clinker, le calcaire et les argiles.

Principales caractéristiques
  • Conception intégrée avec micro‑ordinateur, encombrement réduit et finition adaptée à l'environnement industriel.
  • Écran LCD de grande taille avec menu en anglais pour une utilisation simple et rapide.
  • Analyse rapide : résultats en pourcentage pour SiO2 et Al2O3 disponibles en 60 s (valeur typique).
  • Mesure non destructive : les échantillons ne sont pas altérés et peuvent être réutilisés.
  • Pas de réactifs chimiques ni de source radioactive ; faible consommation et absence d'émissions.
  • Capacité de stockage importante : résultats et journaux d'auto‑contrôle consultables.
  • Conforme à la norme GB/T19140 (principes généraux de l'analyse par fluorescence X du ciment).

Indicateurs techniques
  • Plage d'analyse : SiO2, Al2O3 0,01%–100%.
  • Précision (écart type) : SiO2 ≤ 0,10 % ; Al2O3 ≤ 0,08 %.
  • Largeur d'analyse : (max − min) ≤ 15 % pour un élément donné (ex. : SiO2 matière première 10%–25%, calibré en conséquence).
  • Temps d'analyse : n × 60 s (n = 1–5).
  • Conditions d'utilisation : alimentation AC 200V–240V ; température ambiante 0–40℃ ; humidité relative <85% (à 30℃).
  • Consommation totale : <30 W.
  • Dimensions (L×P×H) : 468 × 368 × 136 mm.
  • Poids : 13,8 kg.

Caractéristiques techniques
  • Modèle / SKU : EA-XF3500
  • Éléments mesurés : silice (SiO2) et alumine (Al2O3)
  • Plage de mesure : 0,01%–100%
  • Précision (écart type) : SiO2 ≤ 0,10 % ; Al2O3 ≤ 0,08 %
  • Temps d'analyse type : 60 s (configurable jusqu'à 5 × 60 s)
  • Alimentation : AC 200V–240V
  • Consommation : <30 W
  • Température de fonctionnement : 0–40℃ ; Humidité relative : <85% (à 30℃)
  • Dimensions (L×P×H) : 468 × 368 × 136 mm
  • Poids : 13,8 kg

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