PrésentationLa série MX300R est un système d'essai d'âge par contrainte de tension à haute température en polarisation inverse. Elle combine unité de chauffage, régulation de température, sources haute/basse tension et unités de contrôle et d'acquisition. Conçue pour réaliser des essais d'endurance sous contrainte de tension sur dispositifs de puissance (IGBT, SiC, MOSFET, diode) afin d'évaluer la fiabilité en conditions de température élevée.
Caractéristiques principales- Précision de mesure élevée : sélection automatique de la plage de courant selon la fuite mesurée pour garantir la précision ;
- Surveillance et enregistrement en temps réel : capture continue de la température d'essai, de la tension par canal et du courant de fuite avec courbes d'évolution complètes ;
- Protection indépendante contre les claquages HV : dispositifs de protection en série par poste pour éviter d'endommager la carte d'essai en cas de défaillance ;
- Compatibilité étendue : supporte les dispositifs de puissance Si/SiC/GaN, en boîtiers discrets ou modules (IGBT, MOSFET, DIODE).
Spécifications / Données techniques- Modèle : MX300R
- Type d'essai : vieillissement par contrainte de tension à haute température (polarisation inverse)
- Principaux éléments : unité de chauffage, contrôleur de température, sources haute/basse tension, unité de contrôle et d'acquisition
- Appareils applicables : IGBT, SiC, MOSFET, DIODE (discrets et modules)
- Protection : protection indépendante contre les claquages haute tension et dispositifs de protection en série par poste
- Acquisition de données : surveillance en temps réel de la température, de la tension par canal et du courant de fuite avec enregistrement des courbes
- Précision de mesure : commutation automatique des plages de courant en fonction de la fuite réelle pour maintenir la précision
- Remarque : la page ne fournit pas d'EAN, de prix ni de fiche technique textuelle complète (certaines spécifications sont présentées en images)